--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 頻率 9 kHz 至 43.5 GHz
--- 產(chǎn)品詳情 ---

概述
R&S?ZNB 是一款高性能、多端口的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,由全球領(lǐng)先的測試與測量公司羅德與施瓦茨推出。它定位于中高端市場,以其極高的測量精度、出色的穩(wěn)定性和無與倫比的易用性而聞名。ZNB 系列不僅是一款傳統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)分析儀,更是一個(gè)集成了強(qiáng)大觸摸屏界面和豐富軟件功能的綜合測試平臺(tái),廣泛應(yīng)用于從研發(fā)到生產(chǎn)的各個(gè)環(huán)節(jié)。
核心特點(diǎn)與技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1. 卓越的測量性能
高動(dòng)態(tài)范圍:通??蛇_(dá) > 140 dB(在 10 Hz 中頻帶寬下),能夠精確測量高隔離度的器件(如濾波器)和極低損耗的器件。
低跡線噪聲:確保測量結(jié)果平滑、穩(wěn)定,對(duì)于觀察微小的參數(shù)變化至關(guān)重要。
出色的穩(wěn)定性:得益于優(yōu)質(zhì)的硬件設(shè)計(jì)和溫控系統(tǒng),其幅度和相位隨時(shí)間和溫度的變化極小,非常適合需要長期監(jiān)控或高精度對(duì)比的測試。
2. 直觀的用戶體驗(yàn)與現(xiàn)代化操作
大型多點(diǎn)觸控屏幕:這是 ZNB 的標(biāo)志性特點(diǎn)之一。用戶可以直接像操作智能手機(jī)或平板電腦一樣,通過手勢(shì)(縮放、拖拽)來操作圖表、設(shè)置參數(shù),大大提升了效率。
清晰的用戶界面:菜單結(jié)構(gòu)邏輯清晰,常用功能一鍵可達(dá)。圖形化的向?qū)Ш驮O(shè)置界面降低了操作門檻,即使是新手也能快速上手。
直接硬鍵與軟鍵結(jié)合:保留了必要的物理旋鈕和硬鍵,方便快速調(diào)整頻率、功率等關(guān)鍵參數(shù),結(jié)合觸摸屏,提供了靈活的操作方式。
3. 強(qiáng)大的多端口測試能力
原生多端口:ZNB 提供 2、4 或 8 個(gè)端口的型號(hào)。其真正的多端口架構(gòu)意味著所有端口都配備獨(dú)立的源和接收機(jī),可以同時(shí)進(jìn)行所有端口的測量,而無需外部切換器。這極大地提高了多端口器件(如雙工器、多工器、耦合器、開關(guān)矩陣)的測試速度。
集成式校準(zhǔn)單元:可選配集成校準(zhǔn)單元,能夠自動(dòng)執(zhí)行全 S 參數(shù)校準(zhǔn)(如 TOSL、TRL、UOSM),進(jìn)一步簡化了多端口校準(zhǔn)流程。
4. 靈活的頻率與功率配置
廣泛的頻率覆蓋:ZNB 系列覆蓋從 9 kHz 到 8.5 GHz / 20 GHz / 40 GHz 等多個(gè)頻段版本,滿足從射頻到微波領(lǐng)域的各種應(yīng)用需求。
可調(diào)的輸出功率:輸出功率范圍寬,典型值為 -10 dBm 至 +5 dBm(可擴(kuò)展至 -35 dBm 至 +15 dBm),方便測試對(duì)功率敏感的有源器件(如放大器壓縮特性)或無源器件。
5. 豐富的內(nèi)置分析功能與時(shí)域分析
高級(jí)時(shí)域分析:通過 IFT(逆傅里葉變換) 功能,可以將頻域測量結(jié)果轉(zhuǎn)換為時(shí)域響應(yīng)。這對(duì)于故障點(diǎn)定位(DUT) 非常有用,例如查找電纜中的斷裂點(diǎn)或連接器的不連續(xù)性。
夾具仿真與去嵌入:內(nèi)置的夾具仿真和去嵌入功能,可以有效地去除測試夾具或PCB走線的影響,直接獲取被測器件(DUT)焊盤上的真實(shí)性能。
混頻器和放大器測量:配合選件,可以輕松進(jìn)行變頻損耗(混頻器)、壓縮點(diǎn)(P1dB)、三階交調(diào)截點(diǎn)(IP3)等關(guān)鍵參數(shù)的測量。
6. 高速測量與數(shù)據(jù)處理
快速的測量速度:極短的掃描時(shí)間和數(shù)據(jù)處理時(shí)間,使其非常適合于生產(chǎn)環(huán)境,可以顯著提高吞吐量。
大內(nèi)存和快速數(shù)據(jù)存儲(chǔ):能夠快速保存大量的測量數(shù)據(jù)點(diǎn)和狀態(tài)文件。
主要應(yīng)用領(lǐng)域
元器件研發(fā)與驗(yàn)證:
無源器件:濾波器、雙工器、多工器、耦合器、環(huán)行器、隔離器、天線、電纜組件等。
有源器件:低噪聲放大器(LNA)、功率放大器(PA)、混頻器、開關(guān)等。
半導(dǎo)體:GaN、GaAs、硅基射頻芯片的S參數(shù)測試。
通信系統(tǒng):
基站濾波器、天線系統(tǒng)的性能測試。
雷達(dá)系統(tǒng)中的組件測試。
航空航天與國防:
對(duì)可靠性和精度要求極高的微波組件和子系統(tǒng)測試。
生產(chǎn)線:
憑借其高速度、多端口能力和穩(wěn)定性,成為大批量測試的理想選擇,用于產(chǎn)品的合格/不合格判定。
教育科研:
其直觀的界面和強(qiáng)大的功能非常適合大學(xué)實(shí)驗(yàn)室和研究機(jī)構(gòu)進(jìn)行教學(xué)和前沿研究。
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