--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 分辨率 優(yōu)于4nm
- 放大倍數(shù) 360000
--- 產(chǎn)品詳情 ---
? 產(chǎn)品介紹:
澤攸科技推出的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡,融合了眾多創(chuàng)新技術(shù),不僅成像效果卓越,而且便于攜帶,能夠滿足多樣化的應(yīng)用需求。在國(guó)內(nèi)外,ZEM系列以其高端定位和多樣化型號(hào),已在成像清晰度、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達(dá)到了先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。
該系列產(chǎn)品以其高度的集成性和多樣化的配置選項(xiàng)而著稱,用戶界面簡(jiǎn)潔,易于學(xué)習(xí)和操作,即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個(gè)工作流程,從樣品準(zhǔn)備、參數(shù)調(diào)整到圖像分析,提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫(yī)藥和半導(dǎo)體等多個(gè)領(lǐng)域均顯示出了其強(qiáng)大的分析能力,助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其卓越的性價(jià)比,ZEM系列已成為眾多高校、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)重點(diǎn)選擇的臺(tái)式掃描電鏡。
? 產(chǎn)品參數(shù):
| 主要指標(biāo) | ZEM20 |
| 加速電壓 | 最大20kV |
| 分辨率 | 優(yōu)于4nm |
| 放大倍數(shù) | 360000 |
| 燈絲類型 | 預(yù)對(duì)中鎢燈絲 |
| 換樣時(shí)間 | <1min(30s) |
| 真空模式 | 高真空 低真空(1-60Pa)(選配) |
| 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍 | 三軸樣品臺(tái) 五軸樣品臺(tái)(選配) |
| 導(dǎo)航相機(jī) | 光學(xué)導(dǎo)航、艙內(nèi)相機(jī) |
| 探測(cè)器 | BSE, SE |
| 拓展能力 | 選配減速,可集成EDS、原位臺(tái) |
? 產(chǎn)品特色:
▲ 真空分隔技術(shù) :采用獨(dú)特真空設(shè)計(jì),電子槍和樣品倉(cāng)真空分離,換樣時(shí)間小于1min。
▲ 超大樣品倉(cāng):提供了更大的樣品存儲(chǔ)空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數(shù)達(dá)到36萬倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式:允許弱導(dǎo)電樣品在不噴金的情況下進(jìn)行觀察。
▲ 倉(cāng)內(nèi)攝像頭:樣品倉(cāng)內(nèi)置高清攝像頭,原位實(shí)驗(yàn)時(shí)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品原位變化。
? 實(shí)拍案例:

? 可拓展原位電鏡附件列表:
SEM芯片加熱臺(tái),SEM加熱爐,SEM電池臺(tái),SEM液體電化學(xué)臺(tái),SEM氣體臺(tái),SEM拉伸臺(tái),SEM-TEC冷臺(tái),SEM液氮冷臺(tái),SEM電學(xué)探針臺(tái),SEM通光等掃描電鏡原位測(cè)試系統(tǒng) 。
懇請(qǐng)注意:因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請(qǐng)諒解。如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系澤攸科技咨詢。
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