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標簽 > 開關損耗
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入了解SiC MOSFET實現(xiàn)建議和解決方案示例
對于電網(wǎng)轉換、電動汽車或家用電器等高功率應用,碳化硅 (SiC) MOSFET 與同等的硅 IGBT 相比具有許多優(yōu)勢,包括更快的開關速度、更高的電流密...
MOSFET/IGBT的開關損耗測試是電源調試中非常關鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對開關損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上,PFC MOSFET的開關損耗...
提升電源效率帶LLC的PFC常規(guī)模擬控制設計解決方案
最近幾十年,電源的效率要求發(fā)展迅猛,與曾經(jīng)教科書中描述的要求大相徑庭,實現(xiàn)既定額定條件下的高效率只是設計的第一步,而真正完全合格且具有競爭力的電源設計必...
IGBT開關損耗產(chǎn)生的原因與PiN二極管的正向恢復特性
大家好,這期我們再聊一下IGBT的開關損耗,我們都知道IGBT開關損耗產(chǎn)生的原因是開關暫態(tài)過程中的電壓、電流存在交疊部分,由于兩者都為正,這樣就會釋放功...
為獲得絕緣柵雙極型晶體管( IGBT)在工作過程中準確的功率損耗,基于數(shù)學模型及測試,建立了 一種準確計算功率逆變器損耗模型的方法。通過雙脈沖測試對影響...
近幾年主流芯片制造廠商,包括Infineon, Fuji, Mitsubishi等都相繼問世了第七代芯片,在芯片大小,芯片厚度,飽和壓降,開關損耗等權衡...
通態(tài)損耗Ps。大體來講,通態(tài)損耗等于集電極電流和IGBT管飽和壓降的乘積即:Ps=Ic*Uces。
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