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標(biāo)簽 > SMU
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												NI SMU助力AI算法企業(yè)成為半導(dǎo)體測試新勢力
近日,基于美國國家儀器 (National Instruments,以下簡稱“NI”) 的PXI源測量單元 (SMU),專注利用人工智能驅(qū)動半導(dǎo)體測試測...
												【當(dāng)代材料電學(xué)測試課堂】系列之一: 納米測試(上)
納米材料的表征包括成分分析,顆粒分析,結(jié)構(gòu)分析,性能分析,分析方法以電鏡分析為主,特別是掃描隧道電鏡(SMT),在導(dǎo)體和半導(dǎo)體納米材料分析上具有優(yōu)勢。
												如何用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀進行斜坡法準(zhǔn)靜態(tài)C-V測量?
電容電壓(C-V)測量通常采用交流測量技術(shù)。而一些電容測量需要直流測量技術(shù),被稱為準(zhǔn)靜態(tài)C-V(或QSCV)測量,因為它們是在非常低的測試頻率下進行的,...
												【技術(shù)大咖測試筆記系列】之九:新型SMU克服低電流容性設(shè)置的棘手測試挑戰(zhàn)
與其他靈敏的SMU相比,新推出的Keithley 4201-SMU中等功率SMU和4211-SMU高功率SMU (選配4200-PA前置放大器)大幅度提...
【當(dāng)代材料電學(xué)測試】系列之一:納米測試(下)
采用高內(nèi)阻的靜電計6517+數(shù)據(jù)采集儀DMM6500+納米發(fā)電采集軟件來進行微小納米發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。
類別:電子元器件應(yīng)用 2021-05-08 標(biāo)簽:ADI半導(dǎo)體SMU 1.7k 0
												基于NI系統(tǒng)SMU系統(tǒng)的功能測試DC-DC電源轉(zhuǎn)換器
電源管理芯片(PMIC)是用于管理或轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(手機、平板電腦或汽車ECU)內(nèi)部功率的集成電路。 低功率PMIC,比如移動電話和其他空間有限的手持設(shè)備中使...
2017-11-17 標(biāo)簽:電源轉(zhuǎn)換器nismu 8.1k 0
												
						LDO常用的電性能參數(shù)測試,主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù),因此一...
2021-12-24 標(biāo)簽:SMU 7.2k 0
4通道SMU PXI板卡產(chǎn)品介紹及詳細參數(shù)
產(chǎn)品介紹 GX3104是一種3U的PXI板卡,可以提供精密的DC電壓/電流源和測試能力,范圍為20 V和250 mA。GX3104有4個相同的通道,均與...
針對快速增長的3D傳感市場,美國泰克公司(Tektronix)將四條20瓦SMU通道封裝在每個1U尺寸的機架槽上以實現(xiàn)存儲機架最大化。
												國產(chǎn)源表的優(yōu)勢和應(yīng)用前景分析:聯(lián)訊儀器參數(shù)對比
在電子測試和測量領(lǐng)域,源表是重要的工具,無法或缺。國產(chǎn)源表如聯(lián)訊儀器S3022F和S3012H在性能和功能方面已經(jīng)能夠與進口源表相媲美。 首先,進口源...
什么是SMU源表? 源表,SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元,源為電壓源和電流源,表為測量表,源表即指一種可作為四象限的電壓...
NI發(fā)布業(yè)界最高精度的PXI源測量單元 全新的低電流SMU提供了高達10 fA的電流靈敏度
“我們的順序參數(shù)測試需要采集數(shù)百萬個數(shù)據(jù)點,電流泄露通常在pA級?!盜MEC研究人員Bart De Wachter博士表示, “在受益于PXI平臺提供的...
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