完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>
標簽 > 透射電鏡
文章:35個 視頻:1個 瀏覽:6031次 帖子:2個
簡述球差校正透射電鏡的原理、優(yōu)勢、應用與發(fā)展
透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源,利用電子束與物質(zhì)的相互作用,對物質(zhì)的微結(jié)構(gòu)進行成像與分析的一種儀器。
季豐電子HITACHI HF5000功能豐富,借助超高的分辨率和獨特的探頭設計,可滿足客戶大多數(shù)極限應用需求,比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級...
隨著材料科技的發(fā)展,需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結(jié)構(gòu)特征,透射電子顯微分析(TEM)作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法,是觀察...
原位電鏡技術(shù)實現(xiàn)極性拓撲相變的原子尺度表征與調(diào)控
在外電場下(圖2),通過疇壁的移動實現(xiàn)了通量閉合核的橫向移動,極化方向與外電場一致的c疇逐漸變大,而極化方向與外電場方向相反的c疇逐漸減小至消失,伴隨著...
透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,其樣品制備是關(guān)鍵步驟,本節(jié)旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微...
電子束穿透固體樣品的能力主要取決于加速電壓,樣品厚度以及物質(zhì)的原子序數(shù)。一般來說,加速電壓愈高,原子序數(shù)愈低,電子束可穿透樣品厚度就愈大。因此,通常情況...
透射電鏡TEM測試解剖芯片結(jié)構(gòu):深入微觀世界的技術(shù)探索
在芯片制造領域,透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過TEM測試,科學家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化,分析晶體缺陷,研究材料界面結(jié)構(gòu),從而深入了解...
2024-02-27 標簽:芯片測試芯片結(jié)構(gòu) 2.3k 0
隨著材料科技的發(fā)展,需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結(jié)構(gòu)特征,透射電子顯微分析(TEM)作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法,是觀察...
換一批
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語言教程專題
| 電機控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
| BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
| 無刷電機 | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
| 直流電機 | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
| 步進電機 | SPWM | 充電樁 | IPM | 機器視覺 | 無人機 | 三菱電機 | ST |
| 伺服電機 | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國民技術(shù) | Microchip |
| Arduino | BeagleBone | 樹莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
| 示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
| OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
| C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
| Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
| DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |