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標簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。
光的干涉是指從目標對象表面到某點的光距（光路）產生偏差時，所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測量目標對象表面凹凸的就是光學干涉儀。右圖是干涉應變計的結構圖。從光源（半導體激光等）發(fā)出的光有一些透過分光鏡到達參考面上，其余被反射到樣本表面。透過的光經參考面反射通過光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經目標對象表面反射透過分光鏡，同樣通過光接收元件即CCD元件成像。
在半導體、鋰電、光伏、航空航天等高端制造領域，高精度光學測量技術是把控產品質量、優(yōu)化生產工藝的核心支撐，直接關系到產業(yè)升級與技術創(chuàng)新進程。白光干涉儀與共...
提升人形機器人運動能力，需要把控運動關節(jié)哪些關鍵參數(shù)？
電機、減速器、絲杠則是人形機器人關鍵運動的關鍵組成部件。因此在生產制造中，如何精確控制這三大零部件的關鍵尺寸與參數(shù)，成為首要課題。
白光干涉儀納米級管控微流控芯片表面粗糙度，以及微流道高度和寬度，提升微流控產品性能與質量，滿足不同客戶需求。
臺階儀、光學輪廓儀和共聚焦顯微鏡，這些看似冰冷的儀器設備，實則是微觀世界的“度量衡”，憑借其技術與性能，為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。
三維表面輪廓儀的維護保養(yǎng)是確保其長期穩(wěn)定運行的關鍵
三維表面輪廓儀是一種高精度測量設備，用于非接觸式或接觸式測量物體表面的三維形貌、粗糙度、臺階高度、紋理特征等參數(shù)。其主要基于光學原理進行測量。它利用激光...
優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀：如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級檢測ITO薄膜黃金參數(shù)，幫助廠家優(yōu)化產品性能，實現(xiàn)降本增效。
表面形貌分析中，波紋度和粗糙度是兩種關鍵特征。通過濾波技術設置截止波長，可將兩者分離。分離后，通過計算參數(shù)或FFT驗證效果。這種分析有助于優(yōu)化加工工藝、...
微透鏡陣列精準全檢，優(yōu)可測3D自動量測方案提效70%
微透鏡陣列可實現(xiàn)許多傳統(tǒng)光學元器件難以實現(xiàn)的特殊功能，應用廣泛。某福州工廠需全檢晶圓MLA產品，引入優(yōu)可測NX230系列晶圓3D自動量測設備，實現(xiàn)高精度...
原理相關1、白光干涉儀的基本原理是什么：白光干涉儀的基本原理是利用光學干涉原理。光源發(fā)出的光經過擴束準直后經分光棱鏡分成兩束，一束光經被測表面反射回來，...
3D白光干涉輪廓儀 WLI-1000提供了強?、多功能的?接觸式光學表?分析。它可以簡單和快速地測量各種表?類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表?。
2024-08-10 標簽：測量系統(tǒng)圖像輪廓三維掃描儀 1.3k 0
摘要：本文研究白光干涉儀在肖特基二極管晶圓深溝槽 3D 輪廓測量中的應用，分析其工作原理及適配深溝槽結構的技術優(yōu)勢，通過實際案例驗證其測量精度，為肖特基...
iPhone17Pro換背板材料，隱藏著什么工藝變化？我們測給你看！
iPhone 17 Pro 系列發(fā)售近半個月，關于其與前代手感差異的討論眾說紛紜。今天我們聚焦手機背板這一關鍵部件，用優(yōu)可測白光干涉儀 AM 系列，通過...
霧化片是霧化器的關鍵零部件，它早已滲透到醫(yī)療、工業(yè)、農業(yè)、消費等多個領域，霧化片盲孔對霧化器性能有著直接影響，因此精確測量盲孔成為各個霧化片廠家的關鍵課題。
引言 晶圓濕法刻蝕工藝通過化學溶液對材料進行各向同性或選擇性腐蝕，廣泛應用于硅襯底減薄、氧化層開窗、淺溝槽隔離等工藝，其刻蝕深度均勻性、表面平整度、側向...
EUV（極紫外）光刻技術憑借 13.5nm 的短波長，成為 7nm 及以下節(jié)點集成電路制造的核心工藝，其光刻后形成的三維圖形（如鰭片、柵極、接觸孔等）尺...
2025-09-20 標簽：白光干涉儀 417 0
浸沒式光刻（Immersion Lithography）通過在投影透鏡與晶圓之間填充高折射率液體（如超純水，n≈1.44），突破傳統(tǒng)干法光刻的分辨率極限...
白光干涉儀在太陽能電池片柵線高度 3D 輪廓測量中的應用解析
引言 太陽能電池片的柵線作為收集光生載流子的關鍵結構，其高度、線寬、截面輪廓等參數(shù)直接影響電池的導電性能和轉換效率。柵線通常為微米級金屬線條（如銀漿印刷...
表面粗糙度作為衡量材料表面微觀形貌的關鍵指標，其精準測量在精密制造、材料科學等領域具有重要意義。白光干涉儀與原子力顯微鏡（AFM）是兩類常用的粗糙度測試...
在精密測量領域，干涉儀作為基于光的干涉原理實現(xiàn)高精度檢測的儀器，被廣泛應用于工業(yè)制造、科研實驗等場景。其中，白光干涉儀與激光干涉儀是兩類具有代表性的設備...
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