前言

為促進國產(chǎn)科學(xué)儀器發(fā)展，打好科學(xué)儀器設(shè)備國產(chǎn)化攻堅戰(zhàn)，加強國產(chǎn)儀器企業(yè)和高校研究之間的交流互動。

成都盛夏的最后一天，中星聯(lián)華攜手電子科技大學(xué)集成電路學(xué)院，舉行《從課堂到職場的實戰(zhàn)-產(chǎn)教研融合探索》-深入淺出講解ADC/DAC/PLL/SerDes、高速信號完整性大講堂。

聚焦理論知識，拓寬實戰(zhàn)視野

現(xiàn)場，中星聯(lián)華技術(shù)支持總監(jiān)蘇水金以其豐富的行業(yè)經(jīng)驗與扎實的專業(yè)素養(yǎng)，圍繞

ADC/DAC/PLL/SerDes芯片、高速信號完整性等內(nèi)容，為廣大師生深入淺出地講解了ADC工作原理解析和選型以及應(yīng)用場景、ADC測試、PLL 概念和測試、高速串行總線發(fā)展趨勢和框架、SerDes芯片原理和構(gòu)架、編碼、測試、如何進行高速信號完整性分析和測試以及抖動、眼圖、均衡等內(nèi)容。

實踐與理論相結(jié)合

現(xiàn)場進行了ADC/DAC/PLL/SerDes、高速串行信號基礎(chǔ)知識串講，為大家詳細講解了當(dāng)前主流芯片的發(fā)展、ADC動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)測試、PLL 概念和測試、高速串行總線發(fā)展趨勢、實測案例等；高速SerDes芯片的框架、應(yīng)用場景；以信號完整性為核心，展開講解了信號完整性問題的來源，SI、PI、EMI三大問題的具體原因，抖動、眼圖、CDR原理、均衡原理和參數(shù)設(shè)置、NRZ&PAM3&PAM4的基礎(chǔ)和應(yīng)用場景解析等內(nèi)容；并針對實際應(yīng)用和測試案例進行分析，為大家介紹了超低相噪微波信號源、高性能誤碼率測試儀等電子測試測量儀器的具體測試操作、關(guān)注指標(biāo)、實際測試經(jīng)驗、測試案例等。

實踐引領(lǐng) 智慧啟航

通過詳細講解和現(xiàn)場演示，師生們了解了相關(guān)技術(shù)的原理和應(yīng)用場景，此次專題課程，充分發(fā)揮校企雙方各自優(yōu)勢，為學(xué)生搭建了理論與實踐測試案例相結(jié)合的學(xué)習(xí)平臺。在互動交流環(huán)節(jié)，參會的師生積極踴躍發(fā)言，圍繞芯片測試相關(guān)內(nèi)容、未來發(fā)展趨勢，以及芯片測試中的重點指標(biāo)等話題展開熱烈討論?，F(xiàn)場交流氛圍濃厚，受到電子科技大學(xué)師生的一致好評，廣大師生表示拓寬了自己的視野，獲得了許多寶貴的新思路和新啟發(fā)。

科技點亮未來

感謝電子科技大學(xué)精心組織此次技術(shù)交流活動，通過與現(xiàn)場的師生們交流，我司深切感受到了深切感受到了電子科技大學(xué)的學(xué)術(shù)氛和專研精神。尤其在與各位同學(xué)互動時，大家提出了富有深度的技術(shù)問題。期待未來能有更多機會與電子科技大學(xué)的師生們交流合作，希冀未來校企可以碰撞出更多科技的火花，共同探索最新的前沿技術(shù)！

未來，中星聯(lián)華將繼續(xù)深化與相關(guān)高校的合作，不斷拓展校企合作領(lǐng)域、創(chuàng)新合作模式，持續(xù)協(xié)助高校開展人才培養(yǎng)方案，為推動相關(guān)行業(yè)的發(fā)展注入源源不斷的活力。

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