一文搞懂四種電鏡測試的區(qū)別(SEM、TEM、EDS、EBSD)

在材料科學與生物實驗領(lǐng)域，電子顯微鏡（EM）作為關(guān)鍵的微結(jié)構(gòu)表征手段，以電子束代替可見光作為照明源，可實現(xiàn)納米級分辨能力，顯著優(yōu)于光學顯微鏡的觀測極限。...

2025-11-05 標簽：SEMTEMEDS 90 0

SEM/FIB雙束系統(tǒng)及其截面加工技術(shù)

掃描電子顯微鏡（SEM）與聚焦離子束（FIB）結(jié)合形成的雙束系統(tǒng)，是現(xiàn)代微納加工與材料分析領(lǐng)域中一種高度集成的多功能儀器平臺。該系統(tǒng)通過在同一真空腔體內(nèi)...

2025-10-30 標簽：SEMfib電子顯微鏡 70 0

FIB-SEM雙束系統(tǒng)：微納尺度的一體化解決方案

在微觀世界的探索中，科研人員一直致力于發(fā)展兼具精準操作與高分辨率表征功能的集成化系統(tǒng)。聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）正是滿足這一需...

2025-10-14 標簽：SEMfib 168 0

氬離子拋光技術(shù)在石油地質(zhì)的應用

石油勘探掃描電子顯微鏡（SEM）作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器，憑借其精準的微觀觀測能力，對沉積巖中的有機質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲集巖等開展...

2025-10-11 標簽：SEM顯微鏡 117 0

FIB-SEM雙束系統(tǒng)的工作原理與應用

聚焦離子束（Focusionbeam，F(xiàn)IB）結(jié)合掃描電子顯微鏡（Scanningelectronmicroscopy，SEM）結(jié)合形成的雙束系統(tǒng)，是現(xiàn)...

2025-09-18 標簽：SEM顯微鏡fib 419 0

電鏡掃描分析應用：電容陶瓷端面觀測

在電子元件領(lǐng)域，電容陶瓷其微觀結(jié)構(gòu)直接決定了電容的介電性能、耐壓性與使用壽命。而電容陶瓷端面作為電極與陶瓷基體的關(guān)鍵結(jié)合區(qū)域，其平整度、晶粒分布、缺陷狀...

2025-09-15 標簽：SEM電子顯微鏡掃描電鏡 1k 0

FIB與SEM/TEM聯(lián)用：實現(xiàn)材料微觀結(jié)構(gòu)與成分的精準解析

為深入解析材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”之間復雜關(guān)聯(lián)，精準高效的樣品制備已成為微納尺度表征的關(guān)鍵。聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）作為一種...

2025-09-12 標簽：電極SEMfib 361 0

一文讀懂！掃描電鏡mapping圖如何助力靜電紡絲纖維結(jié)構(gòu)觀察

在微觀世界的探索中，材料的宏觀性能究竟由其微觀世界中哪些區(qū)域的哪些元素所決定？掃描電鏡mapping圖為我們深入了解材料的微觀結(jié)構(gòu)和成分分布提供了獨特視...

2025-08-29 標簽：SEM電子顯微鏡掃描電鏡 636 0

FIB - SEM 技術(shù)在半導體芯片領(lǐng)域的實踐應用

在半導體芯片的研發(fā)與失效分析環(huán)節(jié)，聚焦離子束雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）憑借其獨特的功能，逐漸成為該領(lǐng)域的核心技術(shù)工具。簡而言之，這一系統(tǒng)將聚焦離子束（F...

2025-08-14 標簽：SEMfib半導體芯片 554 0

SEM IP在MPSoC器件上的使用指南

SEM（Soft Error Mitigation）技術(shù)通過目標式ECC奇偶校驗位注入實現(xiàn)可觀測的軟錯誤模擬。該機制在配置存儲器幀（CRAM Frame...

2025-08-13 標簽：控制器接口IP 1.2k 0

從家庭陽臺到工商業(yè)屋頂：東鴻SEM系列電表成光伏陽臺"隱形管家"

分布式光伏爆發(fā)背后的“隱形痛點” ? ? ? 在全球積極應對氣候變化、推動能源轉(zhuǎn)型的大背景下，分布式光伏發(fā)電，特別是貼近居民生活的光伏陽臺應用，成為國內(nèi)...

2025-08-01 標簽：光伏SEM 606 0

掃描電鏡(SEM)的工作原理和主要成像模式

掃描電鏡的概念和技術(shù)起源于20世紀30年代，最早是由德國物理學家Max Knoll和Ernst Ruska首次提出了掃描電子顯微鏡的概念，經(jīng)過科學家們不...

2025-06-09 標簽：SEMSGS掃描電鏡 8k 0

石油地質(zhì)領(lǐng)域中氬離子拋光儀的技術(shù)應用

石油勘探的微觀世界在石油勘探領(lǐng)域，掃描電子顯微鏡（SEM）是不可或缺的分析工具。它能夠揭示沉積巖中的微觀結(jié)構(gòu)，包括有機質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲集...

2024-12-18 標簽：SEM顯微鏡拋光機 570 0

雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）在微電子行業(yè)的應用探索

微電子技術(shù)的全能利器FIB-SEM雙束系統(tǒng)結(jié)合了聚焦離子束（FIB）與掃描電子顯微鏡（SEM）的雙重功能，代表了高端技術(shù)裝備的最新發(fā)展。該系統(tǒng)將電子束的...

2024-12-14 標簽：SEM微電子fib 1.2k 0

快充過程析鋰、SEI生長和電解液分解耦合機制的定量分析

? ? ?全文速覽 本研究綜合運用了動態(tài)電化學阻抗譜（DEIS）、質(zhì)譜滴定（MST）、核磁共振（NMR）以及氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（GC-MS）等技術(shù)，對L...

2024-12-10 標簽：SEM電解液快充 2.5k 0

氬離子拋光技術(shù)：頁巖電鏡樣品制備的高效解決方案

氬離子拋光技術(shù)：頁巖樣品制備頁巖，這種由高嶺石、水云母等黏土礦物經(jīng)脫水膠結(jié)形成的沉積巖，以其層狀結(jié)構(gòu)而著稱。按成分差異，頁巖可被劃分為炭質(zhì)、鈣質(zhì)、砂質(zhì)和...

2024-11-04 標簽：機械SEM電鏡 715 0

石油地質(zhì)領(lǐng)域中的氬離子拋光儀：技術(shù)應用與效果分析

在石油地質(zhì)學領(lǐng)域，掃描電子顯微鏡（SEM）扮演著核心角色，它被廣泛用于分析沉積巖中的有機質(zhì)來源、探究粘土礦物特性、觀察鈣質(zhì)超微化石以及評估儲集巖的性能。...

2024-11-01 標簽：SEM電子顯微鏡石油 772 0

微電子制造中的FIB-SEM雙束系統(tǒng)：技術(shù)應用與進展

在微電子行業(yè)重要性在微電子行業(yè)中，F(xiàn)IB-SEM雙束系統(tǒng)的應用至關(guān)重要，它不僅涵蓋了芯片樣品的精密切割，還包括對工藝缺陷的深入分析和器件結(jié)構(gòu)的細致表征。...

2024-10-31 標簽：SEM微電子微電子制造 1.1k 0

蔡司X射線顯微CT和SEM電鏡檢測燃料電池材料

燃料電池的商業(yè)化應用具有廣闊的發(fā)展前景。目前的研究熱點及重點：高效催化劑的研發(fā)關(guān)鍵組件結(jié)構(gòu)的優(yōu)化三相界面的構(gòu)效關(guān)系蔡司君從顯微表征角度對以上三個關(guān)鍵科學...

2024-09-04 標簽：SEM電鏡掃描電鏡 918 0

FIB常見應用明細及原理分析

共讀好書 系統(tǒng)及原理 ? 雙束聚焦離子束系統(tǒng)可簡單地理解為是單束聚焦離子束和普通SEM之間的耦合。 單束聚焦離子束系統(tǒng)包括離子源，離子光學柱，束描畫系統(tǒng)...

2024-07-24 標簽：SEMfibEDS 1.4k 0