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自動(dòng)化測(cè)試

自動(dòng)化測(cè)試

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一般是指軟件測(cè)試的自動(dòng)化,軟件測(cè)試就是在預(yù)設(shè)條件下運(yùn)行系統(tǒng)或應(yīng)用程序,評(píng)估運(yùn)行結(jié)果,預(yù)先條件應(yīng)包括正常條件和異常條件。

文章:183個(gè) 瀏覽:27657 帖子:19個(gè)

自動(dòng)化測(cè)試資訊

羅德與施瓦茨推出首個(gè)適用于IEEE 802.3ck的高速以太網(wǎng)電纜組件自動(dòng)化測(cè)試解決方案

羅德與施瓦茨推出首個(gè)適用于IEEE 802.3ck的高速以太網(wǎng)電纜組件自動(dòng)化測(cè)試解決方案

羅德與施瓦茨針對(duì)IEEE 802.3電纜組件推出新款一致性測(cè)試自動(dòng)化軟件,可根據(jù)IEEE 802.3bj、by、cd和ck標(biāo)準(zhǔn)對(duì)高速電纜和背板進(jìn)行精確、...

2022-04-08 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試羅德與施瓦茨以太網(wǎng)電纜 8.5k 0

張琰彬:視頻質(zhì)量自動(dòng)化測(cè)試還有很長(zhǎng)的路要走

在WebRTCon 2018期間,英特爾Intel? Collaboration Suite for WebRTC 客戶端測(cè)試架構(gòu)負(fù)責(zé)人張琰彬接受了Li...

2018-07-06 標(biāo)簽:英特爾自動(dòng)化測(cè)試音視頻技術(shù) 5.3k 0

精準(zhǔn)與高效的核心利器 | 東舟MTP時(shí)延測(cè)試系統(tǒng)

精準(zhǔn)與高效的核心利器 | 東舟MTP時(shí)延測(cè)試系統(tǒng)

在通往元宇宙的征途上,XR設(shè)備作為核心入口,其用戶體驗(yàn)的流暢與真實(shí)感至關(guān)重要。而動(dòng)作到光子時(shí)延,即用戶頭部運(yùn)動(dòng)到顯示畫面更新的時(shí)間差,正是衡量XR設(shè)備沉...

2025-06-26 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試虛擬現(xiàn)實(shí)VRMTP測(cè)試 4.9k 0

什么是自動(dòng)化測(cè)試框架?

這些優(yōu)勢(shì)可以是不同的形式,如易于編寫腳本、可伸縮性、模塊化、可理解性、過程定義、可重用性、成本、維護(hù)等。因此,為了能夠獲得這些好處,建議開發(fā)人員使用一個(gè)...

2020-11-03 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試物聯(lián)網(wǎng)編程語言 4.8k 0

WLAN自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)

WLAN自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)

本文介紹的WLAN自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),采用Linux作為控制端,遠(yuǎn)程Telnet AP端和STA端,分別通過腳本配置AP端和STA端,并控制他們之間的交互。

2012-04-23 標(biāo)簽:WLAN自動(dòng)化測(cè)試 4.1k 0

全方位了解IC芯片測(cè)試流程,IC芯片自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)分享

全方位了解IC芯片測(cè)試流程,IC芯片自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)分享

在開始芯片測(cè)試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路,主要參數(shù)指標(biāo),各個(gè)引出線的作用及其正常電壓。芯片很敏感,所以測(cè)試的時(shí)候要注意不要引...

2023-04-25 標(biāo)簽:芯片自動(dòng)化測(cè)試IC 3.8k 0

硬核產(chǎn)品塑造超強(qiáng)影響力 | 踐行使命,為客戶提供有價(jià)值的產(chǎn)品及服務(wù)

硬核產(chǎn)品塑造超強(qiáng)影響力 | 踐行使命,為客戶提供有價(jià)值的產(chǎn)品及服務(wù)

近日,小編注意到終端評(píng)測(cè)領(lǐng)域知名博主“小白測(cè)評(píng)”發(fā)布視頻更新,題為“為什么你的手機(jī)不流暢……”。其中以東舟終端性能測(cè)試系統(tǒng)作為底層測(cè)試能力支撐,對(duì)幾大廠...

2025-08-15 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試手機(jī)測(cè)試觸屏測(cè)試 3.4k 0

芯片自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片過壓保護(hù)和過流保護(hù)測(cè)試

過壓保護(hù)和過流保護(hù)是為了防止電路中電壓/電流過大從而損壞產(chǎn)品,所以一般的電子器件的內(nèi)部都會(huì)有保護(hù)電路,保障器件在電壓/電流過大時(shí)可以自動(dòng)斷開輸出,因此過...

2023-09-26 標(biāo)簽:芯片自動(dòng)化測(cè)試電源芯片 3.2k 0

【解決方案】DMS駕駛員監(jiān)測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試方案

【解決方案】DMS駕駛員監(jiān)測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試方案

什么是DMS?DMS是英文DriverMonitorSystem的縮寫,即駕駛員監(jiān)控系統(tǒng)。主要是實(shí)現(xiàn)對(duì)駕駛員的身份識(shí)別、駕駛員疲勞駕駛以及危險(xiǎn)行為的檢測(cè)...

2023-06-08 標(biāo)簽:測(cè)試自動(dòng)化測(cè)試DMS 3k 0

汽車OTA自動(dòng)化測(cè)試解決方案

汽車OTA自動(dòng)化測(cè)試解決方案

隨著5G等無線通信技術(shù)的快速發(fā)展,汽車行業(yè)與無線通信技術(shù)進(jìn)一步融合,正快速推動(dòng)著汽車智能化的發(fā)展進(jìn)程,而OTA技術(shù)則是汽車智能化的標(biāo)志之一,OTA升級(jí)持...

2022-11-29 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試OTA 2.9k 0

汽車OTA自動(dòng)化測(cè)試解決方案

汽車OTA自動(dòng)化測(cè)試解決方案

隨著 5G 等無線通信技術(shù)的快速發(fā)展,汽車行業(yè)與無線通信技術(shù)進(jìn)一步融合,正快速推動(dòng)著汽車智能化的發(fā)展進(jìn)程,而OTA技術(shù)則是汽車智能化的標(biāo)志之一,OTA升...

2022-12-09 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試OTA汽車 2.8k 0

一種GUI自動(dòng)化測(cè)試框架方案

一種GUI自動(dòng)化測(cè)試框架方案

目前,在GUI自動(dòng)化測(cè)試中,很多軟件體系都采用錄制回放技術(shù)。這種技術(shù)要求測(cè)試者通過鼠標(biāo)和鍵盤的點(diǎn)擊進(jìn)行工作,腳本記錄事件,然后以自動(dòng)化測(cè)試的方式進(jìn)行回放...

2011-08-24 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試GUI 2.8k 0

NI:智能時(shí)代展望更智能的測(cè)試系統(tǒng)趨勢(shì)

如今電子制造公司的一個(gè)新興趨勢(shì)是通過產(chǎn)品測(cè)試來實(shí)現(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)差異化。美國(guó)國(guó)家儀器公司(以下簡(jiǎn)稱NI)的聯(lián)合創(chuàng)始人James Truchard博士曾說過:“我曾...

2017-06-30 標(biāo)簽:pxi自動(dòng)化測(cè)試ni 2.8k 0

如何用芯片自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備測(cè)試芯片上電和下電功能?

如何用芯片自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備測(cè)試芯片上電和下電功能?

芯片上電與下電功能測(cè)試是集成電路生產(chǎn)和研發(fā)過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),它可以幫助企業(yè)確保產(chǎn)品的可靠性、整合性和兼容性,同時(shí)提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

2023-09-19 標(biāo)簽:芯片自動(dòng)化測(cè)試 2.4k 0

開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備:如何實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試?

開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備:如何實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試?

開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備是將測(cè)試軟件和測(cè)試硬件集成在一個(gè)電源測(cè)試柜中的ate自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,其測(cè)試原理是通過計(jì)算機(jī)操控測(cè)試儀器,從而減少人工干預(yù),完成開關(guān)電...

2024-08-30 標(biāo)簽:開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試 2.1k 0

PXI-自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

PXI-自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)

PXI作為測(cè)試和測(cè)量應(yīng)用的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái),利用現(xiàn)成即用的商業(yè)技術(shù)提升了測(cè)試系統(tǒng)的性能,同時(shí)降低了系統(tǒng)的成本。標(biāo)準(zhǔn)化的商業(yè)技術(shù)使PXI系統(tǒng)以驚人的速度在測(cè)試...

2011-05-11 標(biāo)簽:PXI自動(dòng)化測(cè)試 2.1k 0

全面提升自動(dòng)化測(cè)試,NI TestStand 2012新模塊化框架

NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架,能夠簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試的開發(fā)和報(bào)告生成。

2012-11-06 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試ni公司測(cè)量公司 2.1k 0

NI公司以領(lǐng)先的通道密度擴(kuò)充SMU系列產(chǎn)品

NI推出新的PXI SMU系列產(chǎn)品,適用于自動(dòng)化半導(dǎo)體測(cè)試。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取樣率為600,000,具有4個(gè)通道,堪稱通道密度...

2012-09-14 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試SMU半導(dǎo)體測(cè)試 2.1k 0

LXI數(shù)字化儀為混合模式測(cè)試新增I/O線

19個(gè)同步通道的模擬與數(shù)字信號(hào)獲取 德國(guó)漢斯多爾夫,2020年4月22日訊德國(guó)Spectrum儀器增添強(qiáng)大的混合模式測(cè)試選項(xiàng),進(jìn)一步擴(kuò)展旗下 LXI/E...

2020-05-26 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)化數(shù)據(jù)總線 2.1k 0

ATECLOUD:中國(guó)自主研發(fā)的CPU芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)

ATECLOUD:中國(guó)自主研發(fā)的CPU芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)

隨著中國(guó)科技產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,國(guó)產(chǎn)CPU芯片的研發(fā)和生產(chǎn)已經(jīng)成為國(guó)家科技創(chuàng)新的重要方向。而在CPU芯片的研發(fā)過程中,測(cè)試系統(tǒng)的建設(shè)和優(yōu)化是至關(guān)重要的一環(huán)。...

2023-05-30 標(biāo)簽:芯片自動(dòng)化測(cè)試cpu 2k 0

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5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
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