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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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射頻收發(fā)信機(jī)的測(cè)試是檢驗(yàn)經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后的終端基本功能和射頻性能的環(huán)節(jié)。一般來(lái)說(shuō),終端射頻收發(fā)信機(jī)的測(cè)試遵從相應(yīng)的通信標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,規(guī)范中對(duì)測(cè)試原理、測(cè)試方法和測(cè)...
2012-08-27 標(biāo)簽:測(cè)試射頻收發(fā)信機(jī) 1.9k 0
安捷倫于國(guó)際電磁兼容技術(shù)研討會(huì)展示測(cè)試解決方案
安捷倫科技(Agilent Technologies)于8月5-10日在匹茲堡舉辦的IEEE國(guó)際電磁相容技術(shù)研討會(huì)中,展示旗下的測(cè)試解決方案。
Multitest推出可一次完成9自由度測(cè)試的感測(cè)器測(cè)試暨校正儀
設(shè)計(jì)與製造用于IDM與成品測(cè)試代工廠(chǎng)之成品測(cè)試分類(lèi)處理機(jī)、接觸器與承載板的全球供應(yīng)廠(chǎng)商Multitest,宣布推出可一次完成9 DoF(自由度)測(cè)試...
多功能導(dǎo)電能力測(cè)試儀電路由探測(cè)電極、電阻分壓器、緩沖電路和雙色二極管組成,如圖所示。探測(cè)電極可感知被測(cè)物的電阻,根據(jù)被測(cè)物電阻的大小控制雙色發(fā)光二極管發(fā)...
簡(jiǎn)單介紹LTE測(cè)試技術(shù)的相關(guān)基礎(chǔ)知識(shí)
長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口,在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù),在上行采用單載頻頻分多...
2012-07-17 標(biāo)簽:測(cè)試LTE基礎(chǔ)知識(shí) 1.8k 0
帶寬是大多數(shù)工程師在選擇一款示波器時(shí)首先考慮的參數(shù)。本文將為您提供一些有用的竅門(mén),教您如何為您的數(shù)字和模擬應(yīng)用選擇合適的示波器 帶寬。但首先,我們先看看...
現(xiàn)今的個(gè)人通訊產(chǎn)品都傾向多重通訊功能方向發(fā)展,多重通訊裝置意指單一裝置中具備多種射頻和連結(jié)方式,如在市場(chǎng)熱賣(mài)的蘋(píng)果品牌 iPhone或智能手機(jī)就具備藍(lán)牙...
2012-07-04 標(biāo)簽:測(cè)試無(wú)線(xiàn) 1.1k 1
多標(biāo)準(zhǔn)無(wú)線(xiàn)電基站發(fā)射機(jī)測(cè)試
下一代基站發(fā)射機(jī)和接收機(jī)將會(huì)支持更寬的帶寬,不僅包括采用單一無(wú)線(xiàn)制式的多載波(MC),還包括在單一發(fā)射機(jī)路徑中的多種制式。例如,GSM、W-CDMA和L...
2012-06-21 標(biāo)簽:測(cè)試無(wú)線(xiàn)電基站發(fā)射機(jī) 1.6k 0
NI發(fā)布全新PXI機(jī)箱,全面提高系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)間
在NI PXIe-1066DC機(jī)全新機(jī)箱中,NI為PXI平臺(tái)系列增加了冗余、熱插拔和前端接入功能,顯著增加了系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間
基于802.11的高速藍(lán)牙技術(shù)測(cè)試
IMT-2000和802.11無(wú)線(xiàn)電會(huì)相互干擾,除非彼此在2.6GHz時(shí)的距離能達(dá)到8公尺左右,而在2.3GHz時(shí)的距離可達(dá)到16公尺左右。
2012-05-18 標(biāo)簽:測(cè)試802.11高速藍(lán)牙技術(shù) 4.8k 0
實(shí)現(xiàn)高速串行I/O效率的嵌入式測(cè)試
隨著技術(shù)的進(jìn)步,電子產(chǎn)業(yè)自身在不斷地發(fā)明創(chuàng)新。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師相當(dāng)清楚這一點(diǎn),許多人開(kāi)發(fā)的應(yīng)用數(shù)量甚至可以橫跨幾代電子技術(shù)和微處理器技術(shù)。
美國(guó)惠普于2012年5月9日、10日在上海舉行了“惠普2012全球科技影響力峰會(huì)(2012 HP Global Influencer Summit)...
2012-05-15 標(biāo)簽:測(cè)試惠普測(cè)試設(shè)備 1.1k 0
最新測(cè)試技術(shù)在芯片良率提高中發(fā)揮新作用
在納米設(shè)計(jì)時(shí)代,可制造性設(shè)計(jì)(DFM)方法在提高良率方面中已經(jīng)占據(jù)了中心地位。為了實(shí)現(xiàn)更高的良率,人們?cè)诔跏荚O(shè)計(jì)和制造過(guò)程本身采用了各種技術(shù)。由于采用了...
LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測(cè)試方案
提高系統(tǒng)的可靠性的根源在于系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。要使系統(tǒng)的元器件工作在正常狀態(tài)下,沒(méi)有過(guò)載超負(fù)荷等現(xiàn)象的發(fā)生,并且要有一定的余量。也可以通過(guò)設(shè)計(jì)備用 方案,使系統(tǒng)...
2012-05-09 標(biāo)簽:LED測(cè)試LED驅(qū)動(dòng)器 4k 0
確保測(cè)試期間使用的電纜符合測(cè)試系統(tǒng)最大電壓額定值。在功率器件關(guān)閉狀態(tài)特性分析期間經(jīng)常遇到高壓、低電流測(cè)試,要使用能夠?qū)崿F(xiàn)這類(lèi)測(cè)試所需性能的電纜。在高壓測(cè)...
隨著設(shè)備價(jià)格的下降及全球市場(chǎng)擴(kuò)大,RFID應(yīng)用正面臨飛速發(fā)展。嵌入式RFID的使用量不斷提高,隨著泛在ID中心(Ubiquitous ID Center...
隨著閱讀器與標(biāo)簽價(jià)格的降低和全球市場(chǎng)的擴(kuò)大,射頻標(biāo)識(shí) RFID(以下簡(jiǎn)稱(chēng)RFID)的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可由閱讀器供電(無(wú)源標(biāo)簽),也可以由標(biāo)簽的板上電...
隨著產(chǎn)品復(fù)雜性和密集度的提高以及設(shè)計(jì)周期的不斷縮短,在設(shè)計(jì)周期的后期解決電磁兼容性(EMC)問(wèn)題變得越來(lái)越不切合實(shí)際。在較高的頻率下,你通常用來(lái)計(jì)算EM...
CSP封裝量產(chǎn)測(cè)試中存在的問(wèn)題
CSP封裝芯片的量產(chǎn)測(cè)試采用類(lèi)似晶圓測(cè)試的方法進(jìn)行,但是兩者的區(qū)別在于:晶圓的測(cè)試,探針是扎在管芯的PAD(通常情況下為鋁金屬)上,而CSP封裝的測(cè)試座...
對(duì)天線(xiàn)與某個(gè)應(yīng)用進(jìn)行匹配需要進(jìn)行精確的天線(xiàn)測(cè)量。天線(xiàn)工程師需要判斷天線(xiàn)將如何工作,以便確定天線(xiàn)是否適合特定的應(yīng)用。這意味著要采用天線(xiàn)方向圖測(cè)量(APM)...
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