資料介紹
														集成電路EMC測(cè)試系統(tǒng)-依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法--1Ω/150Ω 直接耦合法:集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967
和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132 。IEC61967 標(biāo)準(zhǔn),用于150kHz 到1GHz
的集成電路電磁發(fā)射測(cè)試,包括以下六個(gè)部分:
第一部分:通用條件和定義(參考SAE J1752.1)
第二部分:輻射發(fā)射測(cè)量方法-TEM 小室法(參考SAE J1752.3)
第三部分:輻射發(fā)射測(cè)量方法-表面掃描法(參考SAE J1752.2)
第四部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法-1Ω/150Ω 直接耦合法
第五部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法-法拉第籠法WFC
第六部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法-磁場(chǎng)探頭法
												
												和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132 。IEC61967 標(biāo)準(zhǔn),用于150kHz 到1GHz
的集成電路電磁發(fā)射測(cè)試,包括以下六個(gè)部分:
第一部分:通用條件和定義(參考SAE J1752.1)
第二部分:輻射發(fā)射測(cè)量方法-TEM 小室法(參考SAE J1752.3)
第三部分:輻射發(fā)射測(cè)量方法-表面掃描法(參考SAE J1752.2)
第四部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法-1Ω/150Ω 直接耦合法
第五部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法-法拉第籠法WFC
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