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當(dāng)前，LSI 的發(fā)展越來越趨向于高集成度和高復(fù)雜度。LSI 工藝向微觀發(fā)展的同時，LSI
本身也向多功能性發(fā)展。中國面向生產(chǎn)的半導(dǎo)體測試?yán)砟畈贿^3-4 年的歷史，面對越來越復(fù)雜的測試需求，測試程序開發(fā)人員顯得力不從心。更加困擾開發(fā)人員的是，他們必須面對縮短測試程序調(diào)試時間以降低測試成本的壓力。
很顯然，在LSI 器件制造出來后必須對其進(jìn)行全部功能的測試，對此別無選擇。在這種
模式下，如果測試程序調(diào)試過程出現(xiàn)問題，很難很快判別出究竟是哪個環(huán)節(jié)的問題：試程序本身問題？芯片本身工藝問題？芯片設(shè)計(jì)缺陷？接口電路板故障？測試系統(tǒng)本身的功能限制？等等。解決以上問題需要大量的時間。并且，這種花費(fèi)的時間往往和芯片設(shè)計(jì)本身并無直接關(guān)系，卻一并算在了測試程序的總開發(fā)時間并計(jì)入總成本。
本身也向多功能性發(fā)展。中國面向生產(chǎn)的半導(dǎo)體測試?yán)砟畈贿^3-4 年的歷史，面對越來越復(fù)雜的測試需求，測試程序開發(fā)人員顯得力不從心。更加困擾開發(fā)人員的是，他們必須面對縮短測試程序調(diào)試時間以降低測試成本的壓力。
很顯然，在LSI 器件制造出來后必須對其進(jìn)行全部功能的測試，對此別無選擇。在這種
模式下，如果測試程序調(diào)試過程出現(xiàn)問題，很難很快判別出究竟是哪個環(huán)節(jié)的問題：試程序本身問題？芯片本身工藝問題？芯片設(shè)計(jì)缺陷？接口電路板故障？測試系統(tǒng)本身的功能限制？等等。解決以上問題需要大量的時間。并且，這種花費(fèi)的時間往往和芯片設(shè)計(jì)本身并無直接關(guān)系，卻一并算在了測試程序的總開發(fā)時間并計(jì)入總成本。
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