資料介紹
描述
借助 Analog Devices ADN8834 控制器和 Vishay 熱敏電阻 NTCLE203 /NTCLE213 10 Kohms 提供的輸入,對激光模塊冷卻 Peltier 元件進行 LTspice 仿真
總應用仿真電路轉(zhuǎn)載于圖1

我們將詳細介紹這些電路組件的不同模型。
1)PELTIER的內(nèi)部結(jié)構(gòu)
本項目的模型復制自以下參考
熱電元件的 SPICE 模型,包括熱效應
2000 年 2 月會議記錄 - IEEE 儀器與測量技術(shù)會議 2:1019 - 1023 vol.2
DOI: 10.1109/IMTC.2000.848895 來源IEEE Xplore
會議:儀器儀表和測量技術(shù)會議,2000。IMTC 2000。第 17 屆 IEEE 論文集卷:2
為 Peltier 提供的網(wǎng)表已在 LTspice 中重新創(chuàng)建,如圖 2 所示。您將在此模擬中找到影響 TE 元件熱行為的所有參數(shù)(存在于與此項目一起下載的存檔中)。這將允許用戶通過與冷熱溫度測量值進行比較來校準 Peltier 參數(shù)(熱質(zhì)量、散熱器容量)。


2)熱敏電阻NTCLE213/203
熱敏電阻的精確特性在文件中定義。
vishay_pspice_models_voltage_driven.lib
取決于應用的參數(shù)是響應時間,它取決于使用的介質(zhì)(空氣),以及空氣是否被攪拌的事實(NTCL213:攪拌空氣中的 5 秒/靜止空氣中的 9 秒)
3)激光源:
這實際上是直接與 Peltier 的熱質(zhì)量相通的熱源。您將需要評估產(chǎn)生了多少瓦特并將源 V5 中的電流調(diào)整為等于該功率(等效 W 和 I)
4) 使用 ADN8834 進行總仿真
幸運的是,ADI LTspice XVII 直接提供了一個 spice 模型,并且應用電路從數(shù)據(jù)表中轉(zhuǎn)載。 優(yōu)點是我們將能夠測試任何元素的任何參數(shù)的影響,所有這些都是為了開發(fā)應用程序的直覺。
在圖 4 中,我們執(zhí)行了一個模擬,其中初始溫度低于或高于設定溫度。我們看到,在任何情況下,達到的溫度總是向設定溫度收斂。
在圖 5/6 中,我們掃描了反饋電阻值 (Rfeedback),以便可視化對熱穩(wěn)定性的影響。該電阻值越高,溫度擺動越低。



在圖 7 和圖 8 中,我們可視化了設定溫度值 Tset(25°C 或 27°C)的影響。
您可以通過饋入?yún)⒖紵崦綦娮璧奶摂M電壓來修復此值:ADN8834 將完美地保持目標 Tset 的熱質(zhì)量
在圖 9 中,每次停留時環(huán)境溫度變化的影響:我們看到開關(guān)頻率與環(huán)境溫度成反比。
在圖 10 中,我們看到當熱敏電阻響應時間降低到非常低的值(溫度擺動略有降低)時,熱回路會發(fā)生什么情況




在圖 11/12 中:激光器的熱功率對電路行為的影響,以及之前的環(huán)境溫度變化。
使用功率激光:1000s以上,當激光的熱量打開,并且環(huán)境太高時,Peltier總是打開但無法冷卻目標的熱質(zhì)量。

無激光功率

該項目的結(jié)論:這種模擬是準備實驗的理想(且成本低廉)的方法,并將提供大量結(jié)果,以便稍后與實際結(jié)果進行比較。
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