小數(shù)分頻頻率合成器在測試時必須外接一個環(huán)路濾波器電路與壓控振蕩器才能構成一個完整的鎖相環(huán)電路。其外圍電路中環(huán)路濾波器的設計好壞將直接影響到芯片的性能測試。以ADF4153小數(shù)分頻頻率合成器為例，研究了其外圍環(huán)路濾波器的設計方法，給出了基于芯片測試的環(huán)路濾波器設計流程，并進行了驗證測試。測試結果表明，該濾波器可滿足小數(shù)分頻頻率合成器芯片測試的需要。在進行小數(shù)分頻頻率合成器的芯片測試時，數(shù)字部分可以通過常規(guī)的數(shù)字測試方法即可以實現(xiàn);而輸出射頻信號的相位噪聲、雜散噪聲則需要芯片工作在正常的輸出狀態(tài)下才能測試。小數(shù)分頻頻率合成器芯片在測試時需要與外接環(huán)路濾波器（LF）、壓控振蕩器（VCO）才能構成完整的鎖相環(huán)回路，在具備正常的芯片功能的前提下才能實現(xiàn)對其相位噪聲、雜散噪聲下的測試。一般而言，壓控振蕩器均使用現(xiàn)成的器件，在挑選器件時注意性能指標的匹配就可以，只有環(huán)路濾波器才是需要計算和設計的。環(huán)路濾波器在整個電路中主要作為一個低通濾波器，它將芯片鑒相器輸出的脈沖信號進行低通濾波，將高頻分量濾除，最終得到一個相對平滑的直流電壓信號去控制VCO工作，從而獲得一個穩(wěn)定的頻率輸出。環(huán)路濾波器的性能將直接影響到小數(shù)分頻頻率合成器芯片性能的測試。本文以ADF 4153型小數(shù)分頻頻率合成器為例，給出了容易實現(xiàn)的三階環(huán)路濾波器的設計方法，能夠滿足芯片實際測試的需要。