資料介紹
														引言
		
		
			
		
靜電放電(ESD - ElectroStatic Discharge)會(huì)給電子器件帶來(lái)破壞性的后果,是造成集成電路失效的主要原因之一。 隨著集成電路工藝不斷發(fā)展,CMOS電路的尺寸不斷縮小,管子的柵氧厚度越來(lái)越薄,芯片的面積規(guī)模越來(lái)越大,MOS管能承受的電流和電壓也越來(lái)越小,而外圍的使用環(huán)境并未改變,因此要進(jìn)一步優(yōu)化電路的抗ESD性能。 
		
			
		
如何使全芯片有效面積盡可能小、高抗ESD性能且不需要增加額外的工藝步驟成為IC設(shè)計(jì)者主要考慮的問(wèn)題。 
ESD保護(hù)原理 
		
			
		
ESD保護(hù)電路的設(shè)計(jì)目的就是要避免工作電路成為因ESD而遭到損害,保證在任意兩芯片引腳之間發(fā)生的ESD都有低阻旁路將ESD電流引入電源線(xiàn)。 這個(gè)低阻旁路不但要能吸收ESD所產(chǎn)生的電流,還要箝位工作電路的電壓,防止工作電路由于電壓過(guò)載而受損。 在電路正常工作時(shí),抗靜電結(jié)構(gòu)是不工作的,這使ESD保護(hù)電路還需要有很好的穩(wěn)定性,能在ESD發(fā)生時(shí)快速響應(yīng),在保護(hù)電路的同時(shí),抗靜電結(jié)構(gòu)自身不被損壞。 抗靜電結(jié)構(gòu)的負(fù)作用(例如輸入延遲)必須在可以接受的范圍內(nèi),并防止抗靜電結(jié)構(gòu)發(fā)生閂鎖。 
		
			
		
CMOS電路ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì) 
		
			
		
大部分的ESD電流來(lái)自電路外部,因此ESD保護(hù)電路一般設(shè)計(jì)在PAD旁或I/O電路內(nèi)部。 典型的I/O電路由輸出驅(qū)動(dòng)和輸入接收器兩部分組成。 ESD通過(guò)PAD導(dǎo)入芯片內(nèi)部,因此I/O里所有與PAD直接相連的器件都需要建立與之平行的ESD低阻旁路,將ESD電流引入電壓線(xiàn),再由電壓線(xiàn)分布到芯片各個(gè)管腳,降低ESD的影響。 具體到I/O電路,就是與PAD相連的輸出驅(qū)動(dòng)和輸入接收器,必須保證在ESD發(fā)生時(shí),形成與保護(hù)電路并行的低阻通路,旁路ESD電流,且能立即有效地箝位保護(hù)電路電壓。 而在這兩部分正常工作時(shí),不影響電路的正常工作。 常用的ESD保護(hù)器件有電阻、二極管、雙極性晶體管、MOS管、可控硅等。 由于MOS管與CMOS工藝兼容性好,因此常采用MOS管構(gòu)造保護(hù)電路。 
		
			
		
CMOS工藝條件下的NMOS管有一個(gè)橫向寄生n-p-n(源極-p型襯底-漏極)晶體管,這個(gè)寄生的晶體管開(kāi)啟時(shí)能吸收大量的電流。 利用這一現(xiàn)象可在較小面積內(nèi)設(shè)計(jì)出較高ESD耐壓值的保護(hù)電路,其中最典型的器件結(jié)構(gòu)就是柵極接地NMOS(GGNMOS,GateGroundedNMOS)。 
		
			
		
在正常工作情況下,NMOS橫向晶體管不會(huì)導(dǎo)通。 當(dāng)ESD發(fā)生時(shí),漏極和襯底的耗盡區(qū)將發(fā)生雪崩,電子空穴對(duì)也同時(shí)產(chǎn)生。 一部分產(chǎn)生的空穴被源極吸收,其余的流過(guò)襯底。 由于襯底電阻Rsub的存在,使襯底電壓提高。 當(dāng)襯底和源之間的PN結(jié)正偏時(shí),電子就從源發(fā)射進(jìn)入襯底。 這些電子在源漏之間電場(chǎng)的作用下,被加速,產(chǎn)生電子和空穴的碰撞電離,形成更多的電子空穴對(duì),使流過(guò)n-p-n晶體管的電流不斷增加,最終使NMOS晶體管發(fā)生二次擊穿,此時(shí)的擊穿不再可逆,最終導(dǎo)致NMOS管損壞。 
		
			
		
為了進(jìn)一步降低輸出驅(qū)動(dòng)上NMOS在ESD時(shí)兩端的電壓,可在ESD保護(hù)器件與GGNMOS之間加一個(gè)電阻。 這個(gè)電阻不能影響工作信號(hào),因此不能太大。 畫(huà)版圖時(shí)通常采用多晶硅(poly)電阻。 
		
			
		
只采用一級(jí)ESD保護(hù),在大ESD電流時(shí),電路內(nèi)部的管子還是有可能被擊穿。 GGNMOS導(dǎo)通,由于ESD電流很大,襯底和金屬連線(xiàn)上的電阻都不能忽略,此時(shí)GGNMOS并不能箝位住輸入到接收端柵的電壓,因?yàn)樽屳斎虢邮斩藮叛趸鑼拥碾妷哼_(dá)到擊穿電壓的是GGNMOS與輸入接收端襯底間的IR壓降。 為避免這種情況,可在輸入接收端附近加一個(gè)小尺寸GGNMOS進(jìn)行二級(jí)ESD保護(hù),用它來(lái)箝位輸入接收端柵電壓,如下圖所示。  常見(jiàn)ESD的保護(hù)結(jié)構(gòu)和等效電路
												
												
												
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