單片機的模擬功能可與數(shù)字電路部分和運行固件部分進行復雜交互。如果模擬電路特性不能得到很好的理解，那么實際應用中就會出現(xiàn)錯誤單片機的交互。這份技術摘要將闡明在ADC通道進行轉(zhuǎn)換時，最常出現(xiàn)的輸入/ 輸出問題。

　　數(shù)字邏輯可以用來控制模擬通道多路開關（MUX）。作為一款使用數(shù)字邏輯在模擬（ADC）通道間進行切換的產(chǎn)品，各器件引腳的信號都可以隨時連接。當ADC輸入通道切換的時候，兩個本不相關的I/O引腳之間可能會建立連接。這個I/O連接會持續(xù)一段時間，直到它將信號傳送通過MUX以觸發(fā)ADC通道改變。此連接最多可持續(xù) 40 ns，比I/O引腳邏輯的最小上升下降時間要長，導致在已連接的引腳上觸發(fā)脈沖干擾。每個引腳的上升下降時間在15 ns到30 ns之間，這段持續(xù)時間已經(jīng)足夠?qū)ζ骷_產(chǎn)生影響。并且由于引腳恢復到先前的狀態(tài)需要一定的時間，該脈沖干擾的時間可能會長于40 ns。

　　舉個例子來說，如果在ADC輸入引腳AN2和AN5之間發(fā)生了切換，那么在切換過程中，RB4和RC0之間可能會建立連接。若將RB4設為一個在邏輯高電平與邏輯低電平之間的輸入信號，那將導致設為輸出端的RC0產(chǎn)生一個脈沖干擾。若兩個相連引腳置于相同的邏輯電平，那么脈沖干擾會降至最小低于10 mV。在極端情況下，兩個引腳置于完全不同的邏輯電平，那么脈沖干擾會高達 160 mV。

　　轉(zhuǎn)換ADC通道的過程本身也會產(chǎn)生另一類脈沖干擾。若 ADC通道同時也是器件上的有源比較器或者運算放大器的輸入端，那么這類干擾脈沖會在外部顯現(xiàn)。三個不同起因的脈沖干擾也許會發(fā)生。轉(zhuǎn)換ADC通道會改變ADC 采樣電容器和保持電容器上的電壓，而電容器上的電位差會導致脈沖干擾的產(chǎn)生。脈沖干擾可以是正向的或是負向的，取決于電容器上的外部電壓水平。當?shù)谝粋€脈沖干擾恢復之后，第二個脈沖干擾又隨之產(chǎn)生。產(chǎn)生第二個脈沖干擾的原因是電容器從引腳上斷開。而第三個脈沖干擾是在轉(zhuǎn)換過程結(jié)束，將電容器重新接到引腳上的時候產(chǎn)生。