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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測，為半導(dǎo)體IC和 MEMS傳感器設(shè)計并制造自動測試設(shè)備，提供標準化產(chǎn)品和定制化服務(wù)方案

70 內(nèi)容數(shù) 7.5w 瀏覽量 96 粉絲

吸放式Handler

型號： H3580

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 溫度范圍 -40—150℃
  • 吞吐量 高達33000UPH
  • 多站點 多達200個站點
  • 裝載量 80 個托盤
  • 占地面積 2200 x 1400 mm (托盤到托盤)
  • 器件尺寸 1x1x0.5 mm
  • 器件封裝 QFP, LGA, QFN, BGA, 帶或不帶引腳

--- 產(chǎn)品詳情 ---

 

H3580是一款高吞吐量、完全可配置型吸放式Handler。H3580因其十分廣泛的可測試范圍而廣受好評。它成功的把搬運、接觸、物理仿真和對MEMS及其他IC器件的完整測試完美的結(jié)合在一個單一的設(shè)備里。多種物理仿真可以結(jié)合在一個單一的測試單元里用來測試Combo MEMS，例如環(huán)境傳感器（壓力+濕度）或?qū)Ш絺鞲衅鳎铀俣扔?陀螺儀）。測試區(qū)域可以在現(xiàn)場很容易的被重新配置成其他測試單元。同時多站點測試單元可以大大提高機器產(chǎn)能：最多可同時接觸并測試196個元件，實現(xiàn)最高吞吐量。

 

 

輸入/輸出托盤

 

  • 80 JEDEC 托盤裝載能力
  • 在操作過程中裝載/卸載托盤
  • 用來預(yù)對準的精密單元

 

批量輸入 - 振動料斗單元

 

  • 高度的操作自主性
  • 通過高速像機的光學(xué)測試
  • 機器handling過程中自動補料
  • 可以同時配備托盤載入單元
  • 5S檢測和光學(xué)檢查通過高速攝像機

 

 

 高度的并行性  

 

1-50 站點并行處理、接觸、測試

高達 200x 并行 接觸 及測試

 

 高速、軟沖擊 Handling  
 

2個由馬達控制并配備視覺系統(tǒng)的吸放單元

直線電機無摩擦

為了輕柔的釋放器件，設(shè)定軸運動曲線在零重力加速度時停下來釋放器件
 

 極低的 jam rate  

 

托盤缺陷自動補償（形狀、平整度、尺寸不當）

器件自動位置調(diào)整及接觸單元內(nèi)的器件的存在測試

 

產(chǎn)品參數(shù)

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