--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 適用測試領(lǐng)域 汽車、照明、PMIC、轉(zhuǎn)換器、MEMS
 - 測試頭插槽 16/20
 - 測試通道 64-256
 
--- 產(chǎn)品詳情 ---

DOT800 多芯混合信號(hào)測試設(shè)備
由SPEA出品的DOT800MEMS測試儀具備二臺(tái)測試機(jī)的能力在緊湊測試頭上有5000多個(gè)通道。系統(tǒng)架構(gòu)由多達(dá)2個(gè)不同的獨(dú)立核心組成。每個(gè)核心可以包含8/10個(gè)插槽, 總共有16/20個(gè)測試頭插槽,以容納強(qiáng)大的儀器套件。每個(gè)系統(tǒng)核心都配備了專用的獨(dú)立CPU, 以非同步的方式執(zhí)行測試程序, 保證了更高的并行測試效率。
LPE | 多處理器多功能通道儀

LPE 是一種高密度的、模塊化的儀器, 能夠?qū)?60至256通道裝配在一個(gè)單一的儀表插槽中。共有五通道配置可滿足不同的技術(shù)需求。

配套儀器

HMX/LMX 100▲
功率矩陣 1:4
高功率矩陣: 8/16A, 150V
低功率矩陣: 2/4A, 100V

LDG 1xx▲(測試頭)
任意波形發(fā)生器和數(shù)字信號(hào)
16 通道, 配置:
LF DGZ; 10V; 2MHz BW; 5Msps
HF DGZ; 10V; 20MHz BW; 40Msps
LF AWG ; 5V; 10mA; 10Hz ÷ 90kHz BW
HF AWG; 5V; 10mA; 90kHz ÷ 2.5MHz BW

SVM TRIM▲(測試頭)
小參數(shù)值(如電阻、電容、電感)測量模組
16 通道
電流(PA);電容(FF);
電壓(μV)測量
HPE 100

8組中等功率 電壓源浮動(dòng) |堆疊 |配套
HPE 100 是一個(gè)8通道多儀器單元, 能夠產(chǎn)生和測量4象限中功率信號(hào),其高達(dá)±100V, 2A, 配套可高達(dá)16A。電源矩陣選項(xiàng),它可以最小化負(fù)載板上的繼電器, 以及系統(tǒng)電源模塊。
SPEA多核結(jié)構(gòu):優(yōu)點(diǎn)

并行測試
加快測試程序的開發(fā):多達(dá)二名工程師可以在同一系統(tǒng)上同時(shí)開發(fā)測試程序。

不同的DUT并行測試
多達(dá)二個(gè)不同的應(yīng)用程序可以由一個(gè)測試儀以完全異步的方式同時(shí)進(jìn)行測試。

不同的IP并行測試
該系統(tǒng)可以異步運(yùn)行二種不同的測試程序,在同一設(shè)備的二個(gè)不同的IP上進(jìn)行。
 

測試頭▲
8-20個(gè)插槽
實(shí)用:
使用穩(wěn)壓電源 (2x 5V, 4x 15V)
ji集電極開路輸出端:76繼電器控制
2x TTL適配器標(biāo)識(shí)符(8位)
8x SPI通信端口

框架▲
 
測試機(jī)控制器
鍵盤
顯示器
中頻電源
射頻單元
 

電源柜▲
 
3個(gè)框架插槽介紹:
最高高壓可到±2500V
最大電流可到 1024A
 

電源柜▲
8個(gè)插槽
6個(gè)框架插槽介紹:
最高高壓可到±2500V
最大電流可到 1024A
實(shí)用:
使用穩(wěn)壓電源 (2x 5V, 4x 15V)
ji集電極開路輸出端:76繼電器控制
2x TTL適配器標(biāo)識(shí)符(8位)
8x SPI通信端口
為你推薦
- 
                    
SPEA 在線離線ICT測試儀 3030IL 全自動(dòng)電路板測試設(shè)備2023-11-14 17:29
                        產(chǎn)品型號(hào):3030IL、3030M、3030R等 設(shè)備尺寸:900x970x1737mm 內(nèi)核數(shù):可達(dá)到4核 電阻測量范圍:1mΩ——1GΩ 電感測量范圍:1μH——1H 電感測量范圍:0.5pF——1F - 
                    
飛針代測-電路板代測-SPEA飛針測試2023-08-17 10:55
                        產(chǎn)品型號(hào):4080 應(yīng)用行業(yè):軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子、航天航空等 代測項(xiàng)目:器件測試、短路測試、連通性測試、上電測試等 適用電路板:PCBA、PCB、負(fù)載板、背板、主板等 代測優(yōu)勢:降本增效,無需治具成本、省人力、快速獲取測試結(jié)果 - 
                    
IGBT功率器件測試儀2022-12-12 10:30
                        產(chǎn)品型號(hào): DOT800T ISO測試資源:高達(dá)12KV/10mA DC ISO測試資源:高達(dá) 10kV/20mA AC AC 測試資源:高達(dá) 6kV,高達(dá) 3kA AC 測試資源:電流短路測試,高達(dá) 10kA DC 測試資源:高電壓發(fā)生器發(fā)生能力高達(dá) 20kV - 
                    
SPEA 3030BT桌面型電路板測試機(jī)2022-11-15 11:14
                        產(chǎn)品型號(hào):3030BT 設(shè)備尺寸:466*483*177mm ICT在線測試功能:有 開路測試功能:有 開/短路測試功能:有 - 
                    
SPEA 3030C ICT在線測試儀2022-11-14 09:27
                        產(chǎn)品型號(hào):3030C 產(chǎn)品類型:針床測試儀 主要功能:ICT、FCT、OBP等 通道-核心:2048-雙核 - 
                    
STU200-高G慣性測試設(shè)備-mems測試設(shè)備|SPEA2022-10-09 14:39
                        產(chǎn)品型號(hào):STU200 加速度:-28~+28g 溫度范圍:-50℃~150℃ 頻率范圍:80~120Hz - 
                    
SPEA 4050S2飛針測試儀2022-09-30 09:48
                        產(chǎn)品型號(hào):4050S2 測試機(jī)接口:384 最小焊點(diǎn)尺寸:80um 測試精度:±40um - 
                    
SPEA 4060S2 飛針測試機(jī)2022-09-30 09:25
                        產(chǎn)品型號(hào):4060S2 測試機(jī)接口:576通道 最小焊點(diǎn)尺寸:80um xyz運(yùn)動(dòng)技術(shù):線性電機(jī) - 
                    
SPEA 4085飛針測試設(shè)備2022-09-28 17:28
                        產(chǎn)品型號(hào):4085 - 
                    
MEMS麥克風(fēng)仿真單元2022-09-28 10:27
                        產(chǎn)品型號(hào):MCTU300 
- 
                    
2025 CHInano 納米游學(xué)營到訪SPEA蘇州2025-10-24 11:00
                                                近日,第十五屆中國國際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)(CHInano2025)正在蘇州國際博覽中心火熱舉辦。這場聚焦微納制造、第三代半導(dǎo)體、納米大健康、AI技術(shù)應(yīng)用等前沿領(lǐng)域行業(yè)盛會(huì),不僅呈現(xiàn)納米技術(shù)領(lǐng)域的最新突破,還為觀眾精心策劃游學(xué)活動(dòng),搭建起交流學(xué)習(xí)、協(xié)同創(chuàng)新的橋梁。SPEA作為全球MEMS測試領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè),很榮幸成為本次游學(xué)活動(dòng)的重要一站。在SPEA蘇州總經(jīng)理 - 
                    
國際半導(dǎo)體高管峰會(huì)(I.S.E.S. China 2025)圓滿收官2025-09-24 17:52
                                                9月22-23日,國際半導(dǎo)體高管峰會(huì)中國站(I.S.E.S.China2025)在上海成功舉辦,為全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)奉獻(xiàn)了一場思想與智慧交融的年度盛宴。本屆峰會(huì)以"重塑半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)新高度——?jiǎng)?chuàng)新、可持續(xù)與全球變革"為主題,匯聚了包括博世、三安、匯川、安森美、意法半導(dǎo)體在內(nèi)的近百家全球頂尖企業(yè)及行業(yè)領(lǐng)袖,共同探討半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的技術(shù)突破與可持續(xù)發(fā)展路徑。SPEA作為功率900瀏覽量 - 
                    
“深化中國戰(zhàn)略,探索協(xié)同發(fā)展”SPEA代表團(tuán)訪問芯派科技2025-09-09 17:50
                                                SPEANews在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)競爭日益激烈的當(dāng)下,SPEA作為全球領(lǐng)先自動(dòng)化測試設(shè)備廠商堅(jiān)定不移地扎根中國市場,精準(zhǔn)地響應(yīng)中國客戶需求,持續(xù)深化與本土企業(yè)的合作,與中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)同頻共振、攜手共進(jìn)。近日,SPEA全球副總裁AndreaFurnari、SPEA(蘇州)總經(jīng)理孫媛麗一行開啟了對(duì)西安芯派科技的重要訪問之旅。此次高層會(huì)晤旨在深化雙方的交流與合作,共772瀏覽量 - 
                    
「研學(xué)啟思,實(shí)踐賦能」SPEA“追芯逐夢”暑期研學(xué)營圓滿落幕2025-08-19 15:57
                                                8月18日,SPEA蘇州測試培訓(xùn)服務(wù)中心迎來一群朝氣蓬勃的青少年。由SPEA與蘇州工業(yè)園區(qū)女企業(yè)家協(xié)會(huì)聯(lián)合舉辦的"追芯逐夢"研學(xué)營正式啟航。10余名初高中學(xué)子開啟了自動(dòng)化測試技術(shù)的沉浸式探索之旅。在接待大廳,SPEA負(fù)責(zé)人結(jié)合MEMS傳感器、功率半導(dǎo)體、5G通信、新能源汽車等前沿應(yīng)用,全面介紹SPEA在自動(dòng)化測試領(lǐng)域的創(chuàng)新突破及卓越成就,生動(dòng)詮釋了"科技點(diǎn)亮321瀏覽量 - 
                    
逐綠前行向未來 | SPEA順利落成五座光伏電站2025-08-01 11:40
 - 
                    
現(xiàn)代晶圓測試:飛針技術(shù)如何降低測試成本與時(shí)間2025-07-17 17:36
                                                半導(dǎo)體器件向更小、更強(qiáng)大且多功能的方向快速演進(jìn),對(duì)晶圓測試流程提出了前所未有的要求。隨著先進(jìn)架構(gòu)和新材料重新定義芯片布局與功能,傳統(tǒng)晶圓測試方法已難以跟上發(fā)展步伐。飛針測試技術(shù)的發(fā)展為晶圓探針測試帶來了重大轉(zhuǎn)變,針對(duì)復(fù)雜測試需求提供適應(yīng)性強(qiáng)且高效的解決方案,同時(shí)有利于降低單個(gè)芯片的測試成本。本文將解析影響晶圓測試的最新趨勢,并探討飛針測試技術(shù)如何改變半導(dǎo)體制 - 
                    
SPEA一行走進(jìn)西郊利物浦太倉芯片學(xué)院開展產(chǎn)學(xué)研交流2025-06-27 17:27
                                                近日,SPEA首席企業(yè)發(fā)展官FabrizioRimondotto攜斯貝亞(蘇州)總經(jīng)理孫媛麗、副總經(jīng)理?xiàng)钊~明一行,拜訪了西郊利物浦大學(xué)(以下簡稱“西浦”)太倉校區(qū),與芯片學(xué)院陳院長及助理教授Dr.ArjunKumar進(jìn)行了深入而友好的產(chǎn)學(xué)研交流。西浦芯片學(xué)院始終緊跟前沿科技行業(yè)發(fā)展趨勢,不斷優(yōu)化課程體系,積極推動(dòng)教育教學(xué)與社會(huì)實(shí)踐的深度融合,致力于培養(yǎng)適應(yīng)市729瀏覽量 - 
                    
新起點(diǎn)·新形象 | SPEA 新加坡子公司喬遷新址2025-06-03 17:44
                                                繼SPEA中國子公司煥新升級(jí)、泰國子公司落成之后,SPEA新加坡子公司又傳來好消息——近期順利喬遷至加基武吉工業(yè)區(qū)Techview商業(yè)中心。早在2005年,SPEA便敏銳地捕捉到新加坡市場蘊(yùn)含的巨大潛力,旋即設(shè)立子公司,開啟布局東南亞市場的關(guān)鍵一步。通過向當(dāng)?shù)匕雽?dǎo)體及電路板廠商提供領(lǐng)先的ATE產(chǎn)品(自動(dòng)測試設(shè)備),SPEA一路披荊斬棘,漸入佳境。經(jīng)過多年穩(wěn)健757瀏覽量 - 
                    
MEMS測試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化:降本增效必經(jīng)之路2025-05-12 11:46
                                                經(jīng)過二十余年產(chǎn)業(yè)化發(fā)展,微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)行業(yè)正迎來關(guān)鍵轉(zhuǎn)型期——從定制化測試解決方案向標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)備與方法轉(zhuǎn)變。這一變化或預(yù)示著產(chǎn)業(yè)將逐步告別"應(yīng)用定制化"的傳統(tǒng)模式。構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化、通用化測試平臺(tái),有望提升MEMS廠商效率、優(yōu)化成本、改善擴(kuò)展性,并助力其在競爭日益激烈的市場環(huán)境中破局前行。MEMS測試面臨的挑戰(zhàn)自本世紀(jì)初以來,微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器件已廣泛703瀏覽量 - 
                    
【展會(huì)回顧】NEPCON CHINA 2025 圓滿落幕2025-04-30 18:33
                                                近日,NEPCONChina2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測試、功率半導(dǎo)體測試等關(guān)鍵領(lǐng)域的熱門測試需求,以頂尖測試產(chǎn)品和解決方案為支點(diǎn),為展會(huì)增添了濃墨重彩的一筆。我司的展位前人頭攢動(dòng)、熱鬧非凡,新老客戶、圈層同仁及海外觀眾紛至沓來。SPEA團(tuán)隊(duì)精神飽滿、熱情洋溢,與觀眾深度互動(dòng),盡顯公司在電性能測試、半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的強(qiáng)大品牌656瀏覽量