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泰克科技

文章:226 被閱讀:43.1w 粉絲數:4 關注數:0 點贊數:7

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泰克科技測試解決方案守護鋰電安全防線

國標GB31241-2022對鋰離子電池和電池組提出了最基本的安全要求,明確規(guī)定了移動電源和便攜式儲....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 07-09 11:50 ?1242次閱讀
泰克科技測試解決方案守護鋰電安全防線

如何精準測試PCIe M.2接口

在AI加速、輕薄筆電、智能邊緣、無線通信等新興應用推動下,PCIe M.2接口正迅速成為高速互聯的核....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 07-07 16:42 ?869次閱讀

泰克科技測試方案:借助WBG-DPT軟件的新型軟件消偏方法加速雙脈沖測試

雙脈沖測試 精確的能量損耗測量是雙脈沖測試的關鍵目標之一。消除電壓探頭和電流探頭之間的時序偏差是在示....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-25 17:17 ?1305次閱讀
泰克科技測試方案:借助WBG-DPT軟件的新型軟件消偏方法加速雙脈沖測試

泰克科技如何攻克電流檢測電阻的高頻失真難題

在開關電源、電機驅動和射頻系統(tǒng)中,>1MHz的電流測量精度直接決定系統(tǒng)性能。傳統(tǒng)方案依賴電流互感器(....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-23 15:19 ?939次閱讀
泰克科技如何攻克電流檢測電阻的高頻失真難題

泰克科技推出EA-BIM 20005多通道電池阻抗分析儀

泰克科技與EA Elektro-Automatik深度融合測試測量與能源技術基因,推出革命性新品——....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-10 11:47 ?1178次閱讀
泰克科技推出EA-BIM 20005多通道電池阻抗分析儀

AFG31000函數發(fā)生器在4200A平臺下的遠程集成應用

AFG31000任意函數發(fā)生器可通過USB遠程控制,具備內置波形應用與實時監(jiān)測功能,支持脈沖與任意波....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-09 13:59 ?800次閱讀
AFG31000函數發(fā)生器在4200A平臺下的遠程集成應用

泰克科技解析AI服務器電源架構的技術演進

2025年,AI熱潮持續(xù)升溫。大模型的參數規(guī)模越發(fā)驚人,訓練周期從月級壓縮至周級,ChatGPT、D....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-07 09:06 ?2240次閱讀
泰克科技解析AI服務器電源架構的技術演進

泰克科技V-by-One HS汽車接口測試解決方案

隨著智能汽車技術的飛速發(fā)展,汽車電子系統(tǒng)對高清視頻和音頻傳輸的需求不斷增加。V-by-One HS作....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-06 11:37 ?2004次閱讀
泰克科技V-by-One HS汽車接口測試解決方案

泰克科技功率器件雙脈沖測試解決方案

在當今快速發(fā)展的電力電子技術領域,功率半導體器件的性能優(yōu)化至關重要。雙脈沖測試(DPT)作為一種關鍵....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-05 11:37 ?885次閱讀
泰克科技功率器件雙脈沖測試解決方案

面向高電容連接的低電流I-V表征測試方案

源測量單元(SMU)可同時輸出和測量電壓、電流,廣泛用于器件與材料的I-V特性表征,尤其擅長低電流測....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-04 10:19 ?833次閱讀
面向高電容連接的低電流I-V表征測試方案

新型功率器件的老化測試方法

隨著技術的不斷進步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優(yōu)異的性能被廣泛應用于各種電....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 06-03 16:03 ?1155次閱讀
新型功率器件的老化測試方法

淺談高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應對策略

高速脈沖測試是現代科學研究的前沿領域,廣泛應用于高能物理探索中的光子多普勒測速(PDV)和寬帶激光測....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 05-26 09:20 ?395次閱讀
淺談高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應對策略

泰克設備在微流控技術研究中的應用

微流控(Microfluidics)是一種使用微管道(尺寸為數十到數百微米)處理或操控微小流體(體積....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 05-22 16:26 ?662次閱讀
泰克設備在微流控技術研究中的應用

泰克科技全鏈路測試解決方案助力人形機器人發(fā)展

在剛剛舉辦的人形機器人科技創(chuàng)新大會中,泰克科技(Tektronix)作為測試、測量和監(jiān)測解決方案的創(chuàng)....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 05-21 14:56 ?859次閱讀

如何精準提取MOSFET溝道遷移率

溝道有效遷移率(μeff)是CMOS器件性能的關鍵參數。傳統(tǒng)測量方法在高k介質、漏電介質與高速應用中....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 05-19 14:28 ?1258次閱讀
如何精準提取MOSFET溝道遷移率

泰克旗下Elektro-Automatik邀您相約2025 CIBF展會

全球能源轉型浪潮下,電池技術正成為驅動綠色未來的核心動力。作為全球測試測量領先品牌, 泰克旗下Ele....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 05-15 16:53 ?690次閱讀

泰克科技深耕中國市場四十余年,助力中國科技騰飛

在當今全球科技飛速發(fā)展的浪潮中,泰克始終與您并肩前行。作為全球測試測量領域的先行者,我們深知每一位客....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 05-13 09:53 ?742次閱讀

氧化鎵器件的研究現狀和應用前景

在超寬禁帶半導體領域,氧化鎵器件憑借其獨特性能成為研究熱點。泰克中國區(qū)技術總監(jiān)張欣與香港科技大學電子....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-29 11:13 ?844次閱讀

三通道可編程雙向直流電源測試方案

每位測試工程師都可能面臨這樣的常見挑戰(zhàn):生產需求超出了測試系統(tǒng)的能力,或需要同時測試更多參數。以往,....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-23 13:39 ?693次閱讀
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泰克科技閃耀2025慕尼黑上海電子展,引領測試技術新變革

中國上海,2025年4月15日 作為全球電子測試與測量領域的領軍者,泰克科技在2025年4月15日至....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-19 17:06 ?1207次閱讀
泰克科技閃耀2025慕尼黑上海電子展,引領測試技術新變革

泰克科技邀您相約2025慕尼黑上海電子展

2025慕尼黑上海電子展(electronica China)即將于4月15日至17日在上海新國際博....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-12 11:43 ?796次閱讀
泰克科技邀您相約2025慕尼黑上海電子展

基于泰克4、5或6系列MSO示波器的高精度TDR測量方案

顧名思義,TDR (Time Domain Reflectometry) 是一種時域技術,需要使用示....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-10 15:19 ?1271次閱讀
基于泰克4、5或6系列MSO示波器的高精度TDR測量方案

有機半導體材料及電子器件電性能測試方案

有機半導體材料是具有半導體性質的有機材料,1986年第一個聚噻吩場效應晶體管發(fā)明以來,有機場效應晶體....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-09 15:51 ?778次閱讀
有機半導體材料及電子器件電性能測試方案

泰克科技榮獲年度杰出測試測量供應商

在2025國際集成電路展覽會暨研討會(IIC Shanghai)隆重舉行之際,泰克科技憑借4系列B混....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-08 11:36 ?666次閱讀

車載顯示接口測試趨勢分析

在汽車行業(yè)快速發(fā)展的當下,高分辨率視頻顯示和內容領域也在迅速擴張。隨著智能座艙和自動駕駛技術的發(fā)展,....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 04-03 14:04 ?1435次閱讀
車載顯示接口測試趨勢分析

大功率ATE測試系統(tǒng)解決方案

大功率自動化測試設備 (ATE) 系統(tǒng)的開發(fā)為測試工程師帶來了眾多挑戰(zhàn)。但測試是必要的,它能夠確保產....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 03-31 11:05 ?1138次閱讀
大功率ATE測試系統(tǒng)解決方案

泰克科技測試設備在二維金屬材料研究中的應用

經典二維材料以其原子級厚度、獨特的電學/機械性能和多樣的結構,成為納米技術領域的基礎材料,和二維金屬....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 03-27 15:06 ?727次閱讀
泰克科技測試設備在二維金屬材料研究中的應用

CMOS可靠性測試中的電荷泵和交流應力技術解析

對于研究半導體電荷捕獲和退化行為來說,交流或脈沖應力對典型的應力測試是一個有用的補充。NBTI(負偏....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 03-20 10:08 ?844次閱讀
CMOS可靠性測試中的電荷泵和交流應力技術解析

碳化硅技術賦能EA10000系列電源的優(yōu)勢

為減緩氣候變化的步伐,人類在非化石燃料、可再生能源解決方案方面取得了進展,并且交通領域的電氣化進程也....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 03-13 17:01 ?1097次閱讀
碳化硅技術賦能EA10000系列電源的優(yōu)勢

如何精準測量fF級超低電容

典型的半導體電容在pF或nF范圍內。許多商業(yè)上可用的LCR表或電容計補償后可以使用適當的測量技術來測....
的頭像 泰克科技 發(fā)表于 03-13 10:15 ?39462次閱讀
如何精準測量fF級超低電容