動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-16 01:03

  芯片測試程序

  

  一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設(shè)備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件（DUT）交互，具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵，如何測量其響應(yīng)信號，以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值（Limit）進行比較，最終判定測試結(jié)果為“通過”（Pas

  漢通達 ATE 測試程序 芯片測試

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• 發(fā)布了文章 2024-11-02 08:03

  CP測試與FT測試的區(qū)別

  

  在集成電路（IC）制造與測試過程中，CP（ChipProbing，晶圓探針測試）和FT（FinalTest，最終測試）是兩個重要的環(huán)節(jié)，它們承擔(dān)了不同的任務(wù)，使用不同的設(shè)備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測試與FT測試的基礎(chǔ)概念要理解CP和FT的區(qū)別，我們可以將整個芯片制造和測試過程比喻成“篩選和包裝水果”的過程。CP測試：相當于在水果采摘

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• 發(fā)布了文章 2024-10-25 13:00

  芯片大廠們：不好意思，明年也已售罄

  

  最近，芯片大廠頻頻傳出售罄的消息。芯片出現(xiàn)售罄的情況并不常見，但在一些特定情況下會發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮，在這一年，全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨著嚴重的芯片短缺問題，多家芯片公司的產(chǎn)品都出現(xiàn)了供應(yīng)緊張甚至售罄的情況。與疫情時期的大多數(shù)芯片缺貨不同，這次是缺的是細分領(lǐng)域的AI芯片。01售罄的芯片大廠們最近，英偉達的BlackwellGPU未來12個月的供應(yīng)量

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• 發(fā)布了文章 2024-10-12 08:03

  IC測試基本原理與ATE測試向量生成

  

  IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測試，有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。1IC測試1.1IC測試原理IC測試是指依據(jù)被測器件（DUT）特點

  漢通達 ATE IC測試 功能測試 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-09-28 08:02

  聚焦‘芯’科技，第12屆半導(dǎo)體設(shè)備展圓滿落幕，漢通達與業(yè)內(nèi)同仁共繪產(chǎn)業(yè)藍圖"

  

  隨著“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會”的圓滿閉幕，北京漢通達科技有限公司在此向所有關(guān)注和支持我們的朋友致以最誠摯的感謝！經(jīng)過數(shù)日的精彩展示與深入交流，我們滿載而歸，不僅展示了公司的最新科技成果，更與眾多行業(yè)精英建立了深厚的友誼與合作橋梁。展會亮點回顧：尖端技術(shù)，震撼亮相：我們精心策劃的展示內(nèi)容，涵蓋了半導(dǎo)體設(shè)備的最新進展與核心部件的創(chuàng)新突破。無論是高精度

  漢通達 半導(dǎo)體設(shè)備 總線

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• 發(fā)布了文章 2024-09-20 08:05

  【展會盛事，邀您共鑒】共赴CSEAC 2024，引領(lǐng)半導(dǎo)體新未來！

  

  在這個充滿機遇與挑戰(zhàn)的半導(dǎo)體行業(yè)新時代，北京漢通達科技有限公司始終與您并肩前行，共同探索技術(shù)創(chuàng)新與市場拓展的新路徑。我們非常榮幸地受邀參加“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會”，作為中國半導(dǎo)體行業(yè)的年度盛會，本次展會不僅匯聚了行業(yè)精英，更是技術(shù)交流與合作的絕佳平臺,借此機會誠摯地邀請您及貴公司團隊一同蒞臨展會現(xiàn)場。展會時間：2024年9月25日至9月27日展

  漢通達 半導(dǎo)體 芯片測試 設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-08-30 12:17

  攜手共進二十載，筑夢前行再遠航

  

  北京漢通達科技有限公司自2003年成為德國AIM公司中國區(qū)的獨家總代理至今已超過20年，AIM非常重視與漢通達的合作關(guān)系并認可我們20年來對AIM公司在中國市場發(fā)展所做的努力與貢獻，AIM公司最近特別在官網(wǎng)發(fā)布新聞強調(diào)AIM公司與漢通達的緊密合作關(guān)系并認可漢通達公司為中國區(qū)客戶所提供的所有技術(shù)支持服務(wù)。北京漢通達科技有限公司與德國AIM公司長達20余年的獨家

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• 發(fā)布了文章 2024-08-09 08:11

  芯片設(shè)計流片、驗證、成本的那些事

  

  前言我們聊聊芯片設(shè)計、流片、驗證、制造、成本的那些事；流片對于芯片設(shè)計來說就是參加一次大考。流片的重要性就在于能夠檢驗芯片設(shè)計是否成功，是芯片制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，也就是將設(shè)計好的方案交給芯片制造廠生產(chǎn)出樣品。檢測設(shè)計的芯片是否達到設(shè)計要求，或者是否需要進一步優(yōu)化；如果能夠生產(chǎn)出符合要求的芯片，那么就可以大規(guī)模生產(chǎn)了。上圖流程的輸入是芯片立項設(shè)計，輸出是做好的芯片

  漢通達 晶圓 流片 芯片設(shè)計 芯片驗證

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• 發(fā)布了文章 2024-08-03 08:11

  26張圖，講透PCB接地！

  

  PCB接地是PCBLayout工程師一直都會關(guān)注的問題，例如：如何在板上規(guī)劃有效地接地系統(tǒng)，是將模擬、數(shù)字、電源地等所有地單獨布線還是單點一起布線？如何消除電路板上的接地環(huán)路？今天主要介紹關(guān)于PCB接地設(shè)計、PCB接地技巧、PCB接地處理。一、什么是接地？雖然說這個問題看起來有點蠢，但不同類型的接地之間還是有區(qū)別的。電氣接地是一個導(dǎo)電體，它充當來自各種設(shè)備的

  漢通達 pcb接地設(shè)計 接地系統(tǒng) 電路板

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• 發(fā)布了文章 2024-07-26 14:30

  芯片測試有哪些 芯片測試介紹

  

  本文就芯片測試做一個詳細介紹。芯片的測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會進行SLT（systemlevetest）。還有一些特定要求的芯片，需要一些可靠性測試。CP測試CP（ChipProbing）測試也叫晶圓測試(wafertest)，也就是在芯片未封裝之前對wafer進行測試，這樣就可以把

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