這款 28 位 1:2 可配置寄存器緩沖器設(shè)計用于 1.7V 至 1.9V VCC操作。每個 DIMM 需要一個設(shè)備來驅(qū)動多達(dá) 18 個 SDRAM 負(fù)載,或者每個 DIMM 需要兩個設(shè)備來驅(qū)動多達(dá) 36 個 SDRAM 負(fù)載。
除芯片選擇柵極使能 (CSGEN)、控制 (C) 和復(fù)位 (RESET) 輸入外,所有輸入均SSTL_18。 它們是 LVCMOS。所有輸出都是邊沿控制電路,針對未端接的DIMM負(fù)載進(jìn)行了優(yōu)化,符合SSTL_18規(guī)格,但漏極開路誤差(QERR)輸出除外。
*附件:74sstub32868.pdf
74SSTUB32868 采用差分時鐘(CLK 和 CLK)供電。數(shù)據(jù)在 CLK 走高和 CLK 走低的交叉點上記錄。
74SSTUB32868 在奇偶校驗位 (PAR_IN) 輸入端接受來自存儲器控制器的奇偶校驗位,將其與獨立于 DIMM 的 D 輸入(C = 0 時為 D1-D5、D7、D9-D12、D17-D28;C = 1 時為 D1-D12、D17-D20、D22、D24-D28)上接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,并指示 漏極開路 QERR 引腳(低電平有效)。約定是偶數(shù)奇偶校驗,即有效奇偶校驗定義為 與 DIMM 無關(guān)的數(shù)據(jù)輸入與奇偶校驗輸入位相結(jié)合的 1 個數(shù)。要計算奇偶校驗,所有與 DIMM 無關(guān)的 D 輸入都必須連接到已知的邏輯狀態(tài)。
74SSTUB32868 包括奇偶校驗功能。奇偶校驗在應(yīng)用到的數(shù)據(jù)輸入后一個周期到達(dá),在設(shè)備的PAR_IN輸入上進(jìn)行檢查。數(shù)據(jù)注冊后兩個時鐘周期,生成相應(yīng)的 QERR 信號。
如果發(fā)生錯誤并且 QERR 輸出被驅(qū)動為低電平,則它將保持低電平鎖存至少兩個時鐘周期或 直到RESET被驅(qū)動為低電平。如果發(fā)生兩個或多個連續(xù)奇偶校驗錯誤,則QERR輸出被驅(qū)動為低電平并鎖存為低電平,時鐘持續(xù)時間等于奇偶校驗錯誤持續(xù)時間,或者直到RESET被驅(qū)動為低電平。如果在器件進(jìn)入低功耗模式(LPM)之前,時鐘周期上發(fā)生奇偶校驗錯誤,并且QERR輸出被驅(qū)動為低電平,則在LPM持續(xù)時間加上兩個時鐘周期內(nèi)或直到RESET被驅(qū)動為低電平。與 DIMM 相關(guān)的信號(DCKE0、DCKE1、DODT0、DODT1、DCS0 和 DCS1)不包括在奇偶校驗計算中。
C輸入控制從寄存器A配置(低電平時)到寄存器B配置(高電平時)的引腳配置。正常工作期間不應(yīng)切換 C 輸入。它應(yīng)該硬連線到有效的低電平或高電平,以將寄存器配置為所需模式。
在DDR2 RDIMM應(yīng)用中,RESET被指定為相對于CLK和CLK完全異步的 時鐘。因此,無法保證兩者之間的時間關(guān)系。進(jìn)入復(fù)位時,寄存器被清除,數(shù)據(jù)輸出相對于禁用差分輸入接收器的時間快速驅(qū)動為低電平。然而,當(dāng)復(fù)位出來時,寄存器相對于時間迅速激活 啟用差分輸入接收器。只要數(shù)據(jù)輸入為低電平,并且時鐘在從RESET的低到高轉(zhuǎn)換到輸入接收器完全使能期間保持穩(wěn)定,74SSTUB32868的設(shè)計就必須確保輸出保持低電平,從而確保輸出上沒有毛刺。
為確保在提供穩(wěn)定時鐘之前從寄存器獲得定義的輸出,在上電期間必須將RESET保持在低電平狀態(tài)。
該器件支持低功耗待機(jī)作。當(dāng)RESET為低電平時,差分輸入接收器為: 禁用和未驅(qū)動(浮動)數(shù)據(jù)、時鐘和基準(zhǔn)電壓 (V 裁判 ) 輸入。此外,當(dāng)RESET為低電平時,所有寄存器都被復(fù)位,除QERR外,所有輸出都強(qiáng)制為低電平。LVCMOS RESET和C輸入必須始終保持在有效的邏輯高電平或低電平。
該器件還通過監(jiān)控系統(tǒng)芯片選擇(DCS0和DCS1)和CSGEN輸入來支持低功耗有源作,并在CSGEN、DCS0和DCS1輸入為高電平時將門控Qn輸出的狀態(tài)變化。如果 CSGEN、DCS0 或 DCS1 輸入為低電平,則 Qn 輸出工作正常。此外,如果 DCS0 和 DCS1 輸入均為高電平,則器件將阻止 QERR 輸出發(fā)生狀態(tài)變化。如果 DCS0 或 DCS1 為低電平,則 QERR 輸出正常工作。RESET輸入優(yōu)先于DCS0和DCS1控制,當(dāng)驅(qū)動低電平時,Qn輸出為低電平,QERR輸出為高電平。如果芯片選擇控制 不需要功能,則CSGEN輸入可以硬接線到地,在這種情況下,DCS0和DCS1的建立時間要求將與其他D數(shù)據(jù)輸入相同??刂频凸?模式,則 CSGEN 輸入應(yīng)上拉至 VCC通過上拉電阻器。
兩個V裁判引腳(A5 和 AB5)在內(nèi)部連接在一起大約 150 個。但是,只需連接兩個 V 中的一個裁判引腳連接到外部V裁判電源。未使用的 V裁判引腳應(yīng)以 V 結(jié)尾裁判耦合電容器。
特性
- 德州儀器 (TI) Widebus+ ? 系列成員
- 引腳排列優(yōu)化了 DDR2 DIMM PCB 布局
- 1 對 2 輸出支持堆疊式 DDR2 DIMM
- 每個 DIMM 需要一個設(shè)備
- 芯片選擇輸入可控制數(shù)據(jù)輸出的狀態(tài)變化,并最大限度地降低系統(tǒng)功耗
- 輸出邊沿控制電路可最大限度地降低未端接線路中的開關(guān)噪聲
- 支持SSTL_18數(shù)據(jù)輸入
- 差分時鐘(CLK和CLK)輸入
- 支持芯片選擇柵極使能、控制和RESET輸入上的LVCMOS開關(guān)電平
- 檢查與 DIMM 無關(guān)的數(shù)據(jù)輸入上的奇偶校驗
- 支持工業(yè)溫度范圍(-40°C 至 85°C)
- 重置輸入禁用差分輸入接收器,復(fù)位所有寄存器,并強(qiáng)制所有輸出為低電平,QERR除外
- 應(yīng)用
- DDR2 寄存器 DIMM
參數(shù)
?1. 核心特性?
- 屬于德州儀器Widebus+?系列,專為DDR2寄存式雙列直插內(nèi)存模塊(RDIMM)設(shè)計。
- 采用1:2輸出配置,支持堆疊式DDR2 DIMM布局優(yōu)化,每個DIMM僅需1片器件即可驅(qū)動18個SDRAM負(fù)載(2片可驅(qū)動36個)。
- 支持SSTL_18數(shù)據(jù)輸入和LVCMOS控制信號(CSGEN、C、RESET),差分時鐘輸入(CLK/CLK)。
- 集成地址奇偶校驗功能:通過PAR_IN引腳接收控制器奇偶位,與DIMM獨立數(shù)據(jù)輸入(D1-D28)比對,通過QERR引腳輸出錯誤指示(偶校驗規(guī)則)。
?2. 關(guān)鍵功能模塊?
- ?低功耗控制?:
- 通過RESET禁用差分接收器并復(fù)位寄存器(輸出強(qiáng)制為低,QERR除外)。
- 芯片選擇(DCS0/DCS1)和CSGEN輸入可門控輸出狀態(tài)以降低動態(tài)功耗。
- ?配置模式?:
- C引腳控制寄存器配置(A模式:C=0;B模式:C=1),影響數(shù)據(jù)輸入/輸出引腳映射。
- ?時序要求?:
- 最高時鐘頻率410MHz,CLK/CLK上升/下降時間最小1ns。
- 奇偶校驗延遲:數(shù)據(jù)輸入后2個時鐘周期生成QERR信號。
?3. 電氣參數(shù)?
- 工作電壓:1.7V至1.9V(VCC),參考電壓VREF=0.5×VCC。
- 工業(yè)級溫度范圍:-40°C至85°C。
- 輸出驅(qū)動能力:支持SSTL_18規(guī)范(除開漏QERR引腳)。
?4. 封裝與訂購信息?
- 封裝:176引腳TFBGA-ZRH(型號74SSTUB32868ZRHR)。
- 頂部標(biāo)記:SB868,符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),MSL3級濕度敏感等級。
?5. 應(yīng)用場景?
- 主要用于DDR2 RDIMM,優(yōu)化信號完整性和功耗,適用于高密度內(nèi)存系統(tǒng)設(shè)計。
-
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