在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)白熱化的當(dāng)下，時(shí)間成本與生產(chǎn)效率成為企業(yè)制勝的核心要素。普迪飛Characterization Vehicle System（ CV 系統(tǒng)）作為電學(xué)參數(shù)表征系統(tǒng)的領(lǐng)航者，率先將Short-Flow測(cè)試芯片用于開(kāi)發(fā)和改進(jìn)新技術(shù)與產(chǎn)品。CV 測(cè)試芯片已被證實(shí)，是用于表征工藝與設(shè)計(jì)之間互動(dòng)關(guān)系的卓越工具，對(duì)驗(yàn)證和監(jiān)控高良率的穩(wěn)定生產(chǎn)而言，其重要性不言而喻。

強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合 · 大幅縮短研發(fā)周期

CV 系統(tǒng)提供差異化的電學(xué)參數(shù)數(shù)據(jù)，與 Exensio 數(shù)據(jù)分析平臺(tái)協(xié)同運(yùn)作時(shí)，能將效能發(fā)揮至最大化。通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)的深度整合與分析，該系統(tǒng)可提供具備可行性與解決力的改進(jìn)方案，有效縮短設(shè)計(jì)迭代周期，幫助產(chǎn)品盡快達(dá)到量產(chǎn)水平。同時(shí)，在量產(chǎn)環(huán)境下，CV 系統(tǒng)所提供的大量設(shè)備及工藝表征數(shù)據(jù)，結(jié)合 Exensio 平臺(tái)，能夠?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)的產(chǎn)品性能建模，進(jìn)而達(dá)成最佳的產(chǎn)品特定工藝設(shè)置，最大化生產(chǎn)過(guò)程的穩(wěn)健性與可預(yù)測(cè)性。

在量產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)最大穩(wěn)健性和可預(yù)測(cè)性

從數(shù)字看優(yōu)勢(shì)，彰顯業(yè)界領(lǐng)先地位

比傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)快 100 倍

密度結(jié)構(gòu)高達(dá)普通設(shè)計(jì)的 30 倍

分析速度提高 10 倍

10nm 及以下的測(cè)試芯片超過(guò) 100 種

功能優(yōu)勢(shì)全方位解析

1.數(shù)據(jù)生成高效 · 自動(dòng)銜接Exensio：

CV 系統(tǒng)由結(jié)合普迪飛專有的 pdFasTest 測(cè)試機(jī)臺(tái)所設(shè)計(jì)的高密度 CV 測(cè)試芯片組合構(gòu)成。其數(shù)據(jù)讀取速度相較于傳統(tǒng)測(cè)試芯片系統(tǒng)提升高達(dá) 100 倍，并且所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)能夠自動(dòng)導(dǎo)入 Exensio 數(shù)據(jù)分析平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)處理流程的無(wú)縫銜接，極大地提高了整體工作效率，確保企業(yè)能夠迅速獲取關(guān)鍵數(shù)據(jù)，為決策提供有力支撐。

2.數(shù)據(jù)質(zhì)量高精度 · 測(cè)試與分析高時(shí)效：

CV 系統(tǒng)包含超越 PPB (十億分之一) 的統(tǒng)計(jì)分辨精度、廣泛全面的 Layout Pattern 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)(DoE)，高面積效率和自動(dòng)化分析。一個(gè)全光罩測(cè)試芯片整個(gè) Lot 的所有測(cè)試與分析可以在不到一天的時(shí)間內(nèi)完成 。

3.100+種CV測(cè)試芯片 · 定制化解決方案：

CV 系統(tǒng)能夠提供已成功應(yīng)用于10nm以下工藝節(jié)點(diǎn)的100多個(gè)CV測(cè)試芯片。這些CV測(cè)試芯片已被證明能夠代表驗(yàn)證和監(jiān)控高產(chǎn)量、穩(wěn)定生產(chǎn)所依賴的關(guān)鍵工藝布局相互作用，并且可根據(jù)客戶需求提供定制化解決方案。

針對(duì)不同企業(yè)需求的定制化應(yīng)用

Fabless：高效達(dá)成量產(chǎn)目標(biāo)

首次正確的產(chǎn)品流片對(duì)業(yè)務(wù)成功至關(guān)重要。穩(wěn)定的量產(chǎn)對(duì)于優(yōu)化WIP和盈利至關(guān)重要。CV 系統(tǒng)為無(wú)晶圓廠提供了實(shí)現(xiàn)目標(biāo)所需的參數(shù)洞察。

MPW CV：可在批量生產(chǎn)之前及時(shí)準(zhǔn)確暴露功能性和參數(shù)性問(wèn)題

Direct Probe CV：為您在 NPI (新產(chǎn)品導(dǎo)入)階段快速發(fā)現(xiàn)功能和參數(shù)問(wèn)題，加快上市速度

Scribe CV 和 CV Core IP：提供監(jiān)視和快速診斷功能，以優(yōu)化成本并實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的批量生產(chǎn)

為Fabless定制的CV系統(tǒng)

Foundry&IDM：助力技術(shù)開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)爬坡

三十多年來(lái)，普迪飛一直致力于助力Foundries和IDM實(shí)現(xiàn)技術(shù)開(kāi)發(fā)和量產(chǎn)爬坡的世界領(lǐng)先速率。我們的客戶依賴于普迪飛提供的CV技術(shù)，在縮短處理、測(cè)試和分析時(shí)間的同時(shí)，最大化每片晶圓的學(xué)習(xí)效果。Scribe CV在量產(chǎn)生產(chǎn)期間提供全晶圓空間覆蓋，并支持關(guān)鍵產(chǎn)品的定制化，實(shí)現(xiàn)快速新產(chǎn)品引入和持續(xù)產(chǎn)量改進(jìn)所需的可觀測(cè)性。

為Foundry和IDM定制的CV系統(tǒng)可大幅提升良率收斂效率

若您所在的企業(yè)正為設(shè)計(jì)周期冗長(zhǎng)、良率提升困難、數(shù)據(jù)處理繁雜等問(wèn)題所困擾，敬請(qǐng)深入了解普迪飛 CV 系統(tǒng)，幫助您突破發(fā)展瓶頸、實(shí)現(xiàn)業(yè)務(wù)飛躍。