車(chē)載智能終端設(shè)備作為車(chē)輛智能化的核心組件，其可靠性直接關(guān)系到行車(chē)安全、用戶(hù)體驗(yàn)及車(chē)輛功能的穩(wěn)定運(yùn)行?？煽啃詸z測(cè)是確保這類(lèi)設(shè)備在復(fù)雜車(chē)載環(huán)境中長(zhǎng)期穩(wěn)定工作的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，涵蓋多個(gè)維度的測(cè)試與驗(yàn)證。

一、可靠性檢測(cè)的核心目標(biāo)

車(chē)載智能終端（如車(chē)機(jī)系統(tǒng)、T-BOX、ADAS 控制器、智能座艙模塊等）的可靠性檢測(cè)，旨在驗(yàn)證設(shè)備在設(shè)計(jì)壽命周期內(nèi)，面對(duì)車(chē)輛運(yùn)行中的各種復(fù)雜條件（如溫度變化、振動(dòng)沖擊、電磁干擾等）時(shí)，能否持續(xù)滿(mǎn)足功能需求、性能指標(biāo)及安全標(biāo)準(zhǔn)，具體包括：

• 確保設(shè)備無(wú)故障運(yùn)行的能力；
• 抵抗環(huán)境應(yīng)力（如高低溫、濕度）的穩(wěn)定性；
• 應(yīng)對(duì)機(jī)械應(yīng)力（如振動(dòng)、沖擊）的結(jié)構(gòu)與性能完整性；
• 電磁兼容性（EMC）以避免干擾車(chē)輛其他電子系統(tǒng)或被干擾；
• 長(zhǎng)期使用后的性能衰減是否在可接受范圍內(nèi)。

二、環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試

車(chē)輛運(yùn)行環(huán)境復(fù)雜多變（從極寒到高溫、潮濕到干燥、顛簸到劇烈沖擊等），環(huán)境適應(yīng)性是可靠性的基礎(chǔ)，主要測(cè)試項(xiàng)目包括：

1. 高低溫及溫循測(cè)試

• 高溫測(cè)試：模擬夏季暴曬或發(fā)動(dòng)機(jī)艙高溫環(huán)境，通常在 + 85℃~+125℃（芯片級(jí)）或 + 55℃~+85℃（整機(jī)級(jí)）下持續(xù)運(yùn)行，檢測(cè)設(shè)備是否出現(xiàn)死機(jī)、功能失效、元件老化等問(wèn)題。
• 低溫測(cè)試：模擬冬季嚴(yán)寒環(huán)境，在 - 40℃~-20℃下存儲(chǔ)或運(yùn)行，驗(yàn)證電池、顯示屏、電路是否因低溫導(dǎo)致性能下降（如屏幕觸控失靈、電池續(xù)航驟減）。
• 溫度循環(huán)測(cè)試：在 - 40℃~+85℃之間快速切換（如每小時(shí) 1 個(gè)循環(huán)），重復(fù)數(shù)百次，檢測(cè)設(shè)備因材料熱脹冷縮差異導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)松動(dòng)（如接口脫落）、電路焊點(diǎn)開(kāi)裂等問(wèn)題。

2. 濕度與凝露測(cè)試

• 在高濕度（如 95% RH）環(huán)境下，結(jié)合溫度變化（如 - 20℃~+60℃），測(cè)試設(shè)備是否因凝露導(dǎo)致內(nèi)部短路、元件腐蝕（如 PCB 板氧化），尤其針對(duì)車(chē)規(guī)級(jí)密封設(shè)計(jì)（如 IP6K9K 防護(hù)等級(jí)）的驗(yàn)證。

3. 機(jī)械應(yīng)力測(cè)試

• 振動(dòng)測(cè)試：模擬車(chē)輛行駛在顛簸路面、發(fā)動(dòng)機(jī)振動(dòng)等場(chǎng)景，按不同方向（X/Y/Z 軸）施加正弦或隨機(jī)振動(dòng)（頻率范圍 10Hz~2000Hz），檢測(cè)設(shè)備結(jié)構(gòu)強(qiáng)度（如外殼開(kāi)裂）、內(nèi)部元件固定情況（如電容脫落）、接口穩(wěn)定性（如 USB 松動(dòng)）。
• 沖擊測(cè)試：模擬急剎車(chē)、碰撞、路面坑洼等突發(fā)沖擊，施加半正弦或方波沖擊（加速度 500G~1000G，持續(xù)時(shí)間 1ms~10ms），驗(yàn)證設(shè)備抗瞬間應(yīng)力的能力，避免核心部件（如存儲(chǔ)芯片、傳感器）損壞。
• 跌落測(cè)試：針對(duì)可插拔終端（如車(chē)載診斷設(shè)備 OBD 終端），從 1.5 米高度跌落至水泥地面，檢測(cè)外殼、屏幕、內(nèi)部結(jié)構(gòu)的抗摔性。

三、性能穩(wěn)定性與耐久性測(cè)試

1. 長(zhǎng)期運(yùn)行耐久性測(cè)試

• MTBF（平均無(wú)故障時(shí)間）驗(yàn)證：通過(guò)加速老化試驗(yàn)（如在高溫 + 高負(fù)荷下連續(xù)運(yùn)行數(shù)千小時(shí)），推算設(shè)備在正常使用條件下的無(wú)故障運(yùn)行時(shí)間（車(chē)規(guī)級(jí)設(shè)備通常要求 MTBF≥10000 小時(shí)）。
• 關(guān)鍵功能循環(huán)測(cè)試：對(duì)高頻使用功能（如屏幕觸控、按鍵按壓、藍(lán)牙 / WiFi 連接、導(dǎo)航定位）進(jìn)行數(shù)萬(wàn)次循環(huán)操作，檢測(cè)是否出現(xiàn)響應(yīng)延遲、功能失靈（如按鍵磨損導(dǎo)致接觸不良）。

2. 電源適應(yīng)性測(cè)試

• 車(chē)輛電源電壓波動(dòng)較大（如 12V 系統(tǒng)可能瞬間降至 9V 或升至 16V，新能源汽車(chē)高壓系統(tǒng)更復(fù)雜），需測(cè)試設(shè)備在寬電壓范圍（如 9V~36V）內(nèi)的穩(wěn)定運(yùn)行能力，避免過(guò)壓燒毀、欠壓重啟等問(wèn)題。
• 模擬電源瞬態(tài)干擾（如突波、尖峰電壓），驗(yàn)證設(shè)備的電源保護(hù)電路（如保險(xiǎn)絲、TVS 管）是否有效。

四、可靠性驗(yàn)證的關(guān)鍵方法

1. 加速壽命試驗(yàn)（ALT）：通過(guò)提高環(huán)境應(yīng)力（如高溫、高電壓），加速設(shè)備老化過(guò)程，縮短測(cè)試時(shí)間，快速評(píng)估壽命（需基于 Arrhenius 模型等理論推算正常條件下的壽命）。
2. HALT/HASS 測(cè)試：HALT（高加速壽命試驗(yàn)）：通過(guò)逐步提升溫度、振動(dòng)等應(yīng)力，暴露設(shè)備設(shè)計(jì)缺陷（如薄弱元件、結(jié)構(gòu)隱患），用于研發(fā)階段優(yōu)化。HASS（高加速應(yīng)力篩選）：在量產(chǎn)階段，對(duì)每臺(tái)設(shè)備施加極限應(yīng)力，剔除早期失效產(chǎn)品（如工藝不良導(dǎo)致的瑕疵品）。
3. 現(xiàn)場(chǎng)可靠性測(cè)試：在實(shí)際車(chē)輛上進(jìn)行長(zhǎng)期路試（如不同氣候區(qū)、路況下行駛 10 萬(wàn)公里以上），記錄設(shè)備故障數(shù)據(jù)，驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室測(cè)試的有效性。

五、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)體系

車(chē)載智能終端的可靠性檢測(cè)需符合國(guó)際及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，主要包括：

• ISO 16750：道路車(chē)輛電子設(shè)備環(huán)境條件及測(cè)試（涵蓋溫度、振動(dòng)、電源、EMC 等）；
• AEC-Q100/Q200：車(chē)規(guī)級(jí)集成電路（芯片）的可靠性標(biāo)準(zhǔn)；
• SAE J1455：商用車(chē)電子設(shè)備環(huán)境測(cè)試規(guī)范；
• GB/T 28046：中國(guó)道路車(chē)輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

總結(jié)

車(chē)載智能終端的可靠性檢測(cè)是一個(gè)多維度、嚴(yán)苛的過(guò)程，需結(jié)合環(huán)境模擬、性能驗(yàn)證、長(zhǎng)期耐久性測(cè)試等手段，并依據(jù)國(guó)際車(chē)規(guī)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。通過(guò)全面檢測(cè)，可提前暴露設(shè)計(jì)、材料或工藝缺陷，確保設(shè)備在車(chē)輛全生命周期內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行，為智能駕駛、車(chē)聯(lián)網(wǎng)等功能提供安全保障。

北京沃華慧通測(cè)控技術(shù)有限公司產(chǎn)品服務(wù)范圍涵蓋 3C檢測(cè)、智能汽車(chē)檢測(cè)及機(jī)器人生態(tài)等多個(gè)檢測(cè)領(lǐng)域，致力于提供一站式、定制化的測(cè)試解決方案。如有需求，歡迎交流。