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AEC-Q102之靜電放電測(cè)試(HBM)

金鑒實(shí)驗(yàn)室 ? 2024-12-25 11:56 ? 次閱讀
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靜電放電(ESD)是電子元器件在運(yùn)輸、安裝和使用過(guò)程中常見(jiàn)的一種現(xiàn)象,它可能導(dǎo)致器件損壞、性能降低或壽命縮短。因此,對(duì)電子元器件進(jìn)行ESD試驗(yàn)至關(guān)重要,以確保其在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中包含了多種ESD試驗(yàn),其中人體模型(HBM)試驗(yàn)是最為常見(jiàn)的一種。

什么是HBM試驗(yàn)?

HBM試驗(yàn),即人體模型試驗(yàn),是一種評(píng)估電子器件對(duì)由人體產(chǎn)生的靜電放電的耐受能力的方法。在HBM試驗(yàn)中,模擬人體通過(guò)接觸或近距離放電到器件上的情況。試驗(yàn)使用標(biāo)準(zhǔn)化的電荷傳遞模型和波形,以評(píng)估器件在不同電荷水平下的耐受能力。這種測(cè)試方法在JEDEC(電子元器件制造商協(xié)會(huì))中得以規(guī)范化,是評(píng)估電子元器件ESD性能的重要標(biāo)準(zhǔn)之一。

以下為HBM試驗(yàn)的結(jié)果參考,根據(jù)不同電壓劃分成不同級(jí)別:

wKgZPGdrgjOAGlb2AAL-uBMHVjE744.png

HBM試驗(yàn)?zāi)康?/strong>

1. 評(píng)估器件的ESD耐受性:

通過(guò)模擬人體靜電放電,評(píng)估器件在實(shí)際使用中可能遇到的ESD事件下的耐受能力。

2. 確保產(chǎn)品可靠性:

通過(guò)HBM試驗(yàn),可以提前發(fā)現(xiàn)器件的弱點(diǎn),從而在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中進(jìn)行改進(jìn),提高產(chǎn)品的可靠性。

3. 滿(mǎn)足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):

AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)要求電子元器件必須通過(guò)HBM試驗(yàn),以確保其在汽車(chē)電子等領(lǐng)域的應(yīng)用安全。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備

1. ESD-1000 LED抗靜電能力自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):

該系統(tǒng)由EMS61000-2A靜電放電發(fā)生器、靜電測(cè)試平臺(tái)和可編程LED專(zhuān)用精密測(cè)試電源組成,專(zhuān)門(mén)針對(duì)LED靜電敏感等級(jí)判定要求及特點(diǎn)的自動(dòng)分析測(cè)試系統(tǒng)。它能夠?qū)崿F(xiàn)LED靜電、正向電壓、反向漏電流測(cè)試等功能,快速判定和篩選LED靜電敏感等級(jí)。

wKgZO2drgkmAY1W6AAHrm9mjznY326.png

2. Noiseken ESS-L1611A靜電放電模擬試驗(yàn)器:

該設(shè)備用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能,滿(mǎn)足IEC61000-4-2、ISO10605及GB/T17626.2等最新標(biāo)準(zhǔn)要求。

wKgZO2drgk-AUS_zAAIelqUJJSA386.png
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