在射頻微波測(cè)試的前沿領(lǐng)域,是德科技重磅推出全新的AP5001A和AP5002A射頻微波模擬源。這兩款新品以其卓越非凡的快速頻率切換功能,為各類復(fù)雜嚴(yán)苛的測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景帶來了前所未有的高效解決方案。
AP5001A 和 AP5002A 的快速頻率切換特性令人矚目。
它們分別擁有 200 微秒和 300 微秒的最短頻率駐留時(shí)間以及更為迅速的頻率切換時(shí)間,這一卓越指標(biāo)在同類產(chǎn)品中脫穎而出。如此快速的頻率切換能力,直接促使測(cè)試吞吐量實(shí)現(xiàn)了質(zhì)的飛躍。相較于傳統(tǒng)模擬源,在相同時(shí)間內(nèi)能夠覆蓋更多的頻率測(cè)試點(diǎn),極大地壓縮了整體測(cè)試周期。例如,在大規(guī)模射頻組件的生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié),以往因頻率切換緩慢而導(dǎo)致的測(cè)試效率瓶頸將被徹底打破,新產(chǎn)品讓生產(chǎn)線的測(cè)試速度顯著提升,產(chǎn)能得到有效擴(kuò)充。

(使用實(shí)時(shí)頻譜的瀑布圖Time Marker功能捕捉到頻率駐留時(shí)間292us)

(使用實(shí)時(shí)頻譜的瀑布圖Time Marker功能進(jìn)一步捕捉到頻率切換時(shí)間只有30.8us)
在雷達(dá)系統(tǒng)的創(chuàng)新研發(fā)與深度測(cè)試進(jìn)程中,新品的快速頻率切換功能無疑是關(guān)鍵利器?,F(xiàn)代雷達(dá)技術(shù)不斷演進(jìn),對(duì)于頻率捷變的要求愈發(fā)嚴(yán)苛。AP5001A 和 AP5002A 能夠精準(zhǔn)且迅速地模擬雷達(dá)在各種復(fù)雜工況下的頻率變化,為工程師全面深入地測(cè)試?yán)走_(dá)接收機(jī)的靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍以及抗干擾能力提供了有力支撐。通過快速切換頻率,還原真實(shí)的復(fù)雜電磁場(chǎng)景,助力雷達(dá)系統(tǒng)在設(shè)計(jì)階段精準(zhǔn)優(yōu)化。
在通信設(shè)備的研發(fā)和測(cè)試中,這兩款模擬源也發(fā)揮著重要作用。例如,對(duì)通信設(shè)備在多個(gè)頻點(diǎn)下的性能進(jìn)行測(cè)試。AP5001A和AP5002A可以快速切換頻率,模擬不同頻段的信號(hào),從而快速完成通信設(shè)備的功率校準(zhǔn)、靈敏度等多項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo)的測(cè)試,提高了測(cè)試吞吐量,極大降低生產(chǎn)測(cè)試成本。
總之,是德科技AP5001A和AP5002A射頻微波模擬源憑借其出色的快速頻率切換功能以及200微秒和300微秒的最短頻率駐留時(shí)間,在眾多關(guān)鍵領(lǐng)域展現(xiàn)出了卓越的性能,為相關(guān)行業(yè)的發(fā)展提供了高效解決方案。
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原文標(biāo)題:是德科技 AP5001A/AP5002A 射頻微波模擬源:開啟快速測(cè)試新篇章
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