在集成電路的工藝開(kāi)發(fā)、產(chǎn)品導(dǎo)入和量產(chǎn)過(guò)程中，電性測(cè)試設(shè)備扮演著重要角色。通過(guò)提高測(cè)試設(shè)備速度，可加快新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期，提升生產(chǎn)效率，降低測(cè)試成本。這不僅有助于將新設(shè)計(jì)芯片快速推向市場(chǎng)，而且對(duì)整個(gè)芯片生產(chǎn)過(guò)程產(chǎn)生積極影響，促進(jìn)芯片產(chǎn)業(yè)的持續(xù)發(fā)展。

T4000 Max 問(wèn)世 測(cè)試速度大幅提升

最近，廣立微推出T4000 Max 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)，配置100pin，支持多通道并行測(cè)試，可更好地服務(wù)有多測(cè)試項(xiàng)、高測(cè)試效率需求的客戶。T4000 Max（100pin）豐富了廣立微典型測(cè)試產(chǎn)品矩陣，進(jìn)一步擴(kuò)展公司高速高端測(cè)試機(jī)品類，標(biāo)志著廣立微在晶圓級(jí)電性測(cè)試設(shè)備前沿領(lǐng)域取得了又一重要成果。

T4000 Max(100pin)系列采用了自研高性能矩陣開(kāi)關(guān)構(gòu)架，具有精度高、速度快、配置靈活等特點(diǎn)，適用于工藝研發(fā)、晶圓級(jí)可靠性、量產(chǎn)WAT等多種測(cè)試場(chǎng)景。

其100pin的配置，可支持多條module同時(shí)扎針量測(cè)，例如:24pad/module，可同時(shí)測(cè)量4條module，大幅提升測(cè)試速度，在絕大多數(shù)layout場(chǎng)景下，可支持充分并行測(cè)試。

十余載深厚積淀，潛心技術(shù)研發(fā)。廣立微的電性測(cè)試設(shè)備已在客戶端久經(jīng)考驗(yàn)，在功能、一致性、測(cè)量精度、測(cè)試效率、交貨周期和服務(wù)保障等方面極具競(jìng)爭(zhēng)力。

初心如磐擔(dān)使命，奮楫篤行啟“芯”程。未來(lái)，廣立微將持續(xù)開(kāi)發(fā)更多具有全球競(jìng)爭(zhēng)力的技術(shù)創(chuàng)新和差異化產(chǎn)品，為客戶和市場(chǎng)提供卓越性能、高生產(chǎn)效率和高性價(jià)比的測(cè)試設(shè)備解決方案，助力客戶贏得未來(lái)。