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多功能測試探針電路原理圖

CHANBAEK ? 來源:circuit-diagramz ? 作者:circuit-diagramz ? 2023-12-13 18:21 ? 次閱讀
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兩個 IC 的多功能性:

該電路僅包含兩個集成電路 (IC),通過執(zhí)行三種不同的測試功能(可通過開關(guān) S1 選擇)來展示多功能性。 IC1a-1c 以時鐘發(fā)生器中心,生成頻率為 3 Hz 的矩形信號。在開關(guān) S1 的位置 A,T1 利用時鐘信號為探頭供電。

該緩沖級可通過限流電阻 R7 提供高達 100 mA 的電流。實際上,這允許探頭將 3 Hz 信號注入任何數(shù)字電路,從而有效地覆蓋所有邏輯輸出。短路的檢測變得更快,因為只有此類異常才會導致信號消失。

然而,必須注意的是,這種方法代表了一種基本測試,同時短路連接到被檢查軌道的所有輸出,而制造商通常允許一次僅針對一個輸出發(fā)生這種情況。

邏輯電平檢測:

當開關(guān) S1 設(shè)置到位置 B 時,測試儀轉(zhuǎn)換為檢測邏輯電平。當探頭未連接時,IC1d 輸入端出現(xiàn) 3 Hz 時鐘,導致 DI 有節(jié)奏地閃爍。

當向探頭施加邏輯電平時,它會抑制時鐘;如果電平低,LED 熄滅,如果電平高,LED 保持常亮。

該 IC 的開關(guān)閾值約為電源電壓的 1/3 至 2/3,因此適用于 CMOS 4000 系列和 HCT 系列。雖然標準 TTL、LS 和 HCT IC 是兼容的,但值得注意的是,閾值對于這些變化可能不是最佳的。

多功能測試探頭示意圖

高頻信號兼容性:

該測試儀設(shè)計用于有效處理頻率范圍為 30 至 40 MHz 的輸入信號。當開關(guān)S1設(shè)置到位置C時,輸入信號被引導至移位寄存器IC2的時鐘輸入。

在探頭上的八個時鐘脈沖之后,IC2 輸入 A 和 B 處的持續(xù)高電平到達 OH 輸出,點亮 LED D2。由于 3 Hz 信號不斷重置 IC2,只要探頭上存在時鐘(假設(shè)其頻率超過 25 MHz),LED 就會閃爍。

當兩個 LED 閃爍時,整個電路消耗 10 mA 的電流。必須確保電源能夠提供 100 mA 左右的電流,以保證脈沖發(fā)生器的良好運行。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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