相位噪聲是什么？見(jiàn)圖知意。

相位噪聲是振蕩器在短時(shí)間內(nèi)頻率穩(wěn)定度的度量參數(shù)。它來(lái)源于振蕩器輸出信號(hào)由噪聲引起的相位、頻率的變化。頻率穩(wěn)定度分為兩個(gè)方面：長(zhǎng)期穩(wěn)定度和短期穩(wěn)定度，其中，短期穩(wěn)定度在時(shí)域內(nèi)用艾倫方差來(lái)表示，在頻域內(nèi)用相位噪聲來(lái)表示。

相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項(xiàng)非常關(guān)鍵的指標(biāo)。相位噪聲指標(biāo)的測(cè)試是研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試必須進(jìn)行測(cè)試的一項(xiàng)指標(biāo)，相位噪聲好壞對(duì)通訊系統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道又很密集，并且不斷的變換，所以對(duì)相位噪聲的要求也愈來(lái)愈高。最新的數(shù)字相位解調(diào)法不需要鎖相環(huán)，無(wú)需環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補(bǔ)償，相同靈敏度下，極大提高測(cè)試效率。

數(shù)字相位解調(diào)法非常易于實(shí)現(xiàn)脈沖相位噪聲、附加相位噪聲、脈沖附加相位噪聲測(cè)試，VCO測(cè)試及瞬態(tài)測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試要求，可以極大的滿足多方面測(cè)試要求，并且可以進(jìn)行多種測(cè)試需求的并行測(cè)量。同時(shí)數(shù)字相位解調(diào)法測(cè)試比較簡(jiǎn)單，無(wú)需復(fù)雜的操作設(shè)置，測(cè)試速度快。尤其是數(shù)字相位解調(diào)法基礎(chǔ)之上增加互相關(guān)算法進(jìn)行測(cè)試，使得測(cè)試靈敏度極高，是目前進(jìn)行相位噪聲測(cè)試以及其他相關(guān)測(cè)試最優(yōu)異的測(cè)試方法和手段。

在全球相位噪聲分析儀市場(chǎng)中，臺(tái)式相位噪聲分析儀在相位噪聲分析市場(chǎng)中占有相當(dāng)大的份額，據(jù)市場(chǎng)調(diào)研公司近兩年數(shù)據(jù)顯示，羅德與施瓦茨、是德科技、Microchip Technology占據(jù)全球市場(chǎng)的前三位。

審核編輯：黃飛