NO.1 案例背景

某攝像頭模組，在生產(chǎn)測試過程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。

NO.2 分析過程

#1 X-ray分析

樣品#1

樣品#2

測試結(jié)果：兩個失效樣品LGA焊接未發(fā)現(xiàn)明顯異常。

#2 染色分析

測試結(jié)果：樣品1將LGA染色試驗剝離后，發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)多數(shù)存在錫量較少的現(xiàn)象，焊接面積小；少數(shù)呈現(xiàn)為無焊錫結(jié)合，可以確認(rèn)為虛焊不良。

#3 斷面分析

錫少導(dǎo)致的未焊錫

僅有部分焊接

測試結(jié)果：樣品2進(jìn)行斷面分析，LGA多處虛焊不良與焊盤錫量少，呈虛焊現(xiàn)象。

#4 SEM分析

測試結(jié)果：對失效焊點(diǎn)進(jìn)行SEM分析，PCB焊盤上已形成IMC層，焊盤沾有極少量焊錫，器件焊盤無焊錫附著。

測試結(jié)果：存在明顯錫少。

#5 EDS分析

測試結(jié)果：對虛焊焊點(diǎn)進(jìn)行EDS分析，未見明顯異常元素。

N0.3 分析結(jié)果

通過染色試驗、斷面分析和SEM分析，EDS分析判斷引起LGA焊接失效的主要原因為——錫膏量不足導(dǎo)致底部焊接虛焊。

NO.4 改善方案

1.印刷鋼網(wǎng)開口設(shè)計與印刷制程工藝參數(shù)改善；

2.LGA芯片貼裝壓力驗證。

騰昕檢測有話說：

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審核編輯 黃宇