2配置RA6T2 ADC模塊

2.1 ADC規(guī)范

2.1.9 自校準(zhǔn)功能

ADC內(nèi)置自校準(zhǔn)功能，用于規(guī)范芯片間差異引起的A/D轉(zhuǎn)換器特性差異。

2.1.9.1 需要自校準(zhǔn)的條件

修改ADC運(yùn)行特性后（包括復(fù)位后、釋放模塊停止、從軟件待機(jī)模式或深度軟件待機(jī)模式返回時(shí)），以及每次調(diào)用R_ADC_B_ScanCfg() 函數(shù)時(shí)，都應(yīng)執(zhí)行自校準(zhǔn)。下表所示為需要自校準(zhǔn)的條件的詳細(xì)列表。

表7. 需要自校準(zhǔn)的條件

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如果出現(xiàn)該表中所示的條件，則在使用A/D轉(zhuǎn)換器之前需要執(zhí)行自校準(zhǔn)，以保證轉(zhuǎn)換結(jié)果。如果在第一次嘗試后A/D轉(zhuǎn)換器仍在運(yùn)行，則停止所有A/D轉(zhuǎn)換器并再次執(zhí)行自校準(zhǔn)。

2.1.9.2 自校準(zhǔn)操作和過程

自校準(zhǔn)功能有以下用途：

(1) 內(nèi)部電路校準(zhǔn)：

自校準(zhǔn)可調(diào)整A/D內(nèi)部電路的操作。

(2) 增益和偏移校準(zhǔn)：

自校準(zhǔn)可測量A/D轉(zhuǎn)換器的增益誤差和偏移誤差?；跍y得誤差數(shù)據(jù)的A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果校準(zhǔn)處理在A/D轉(zhuǎn)換之后執(zhí)行。該自校準(zhǔn)應(yīng)在內(nèi)部電路自校準(zhǔn)完成后執(zhí)行。

(3) 通道專用采樣保持電路增益和偏移校準(zhǔn)：

當(dāng)使用通道專用采樣保持電路時(shí)，自校準(zhǔn)可測量A/D轉(zhuǎn)換器的增益誤差和偏移誤差?；跍y得誤差數(shù)據(jù)的A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果校準(zhǔn)處理在A/D轉(zhuǎn)換之后執(zhí)行。該自校準(zhǔn)應(yīng)在A/D轉(zhuǎn)換器增益/偏移自校準(zhǔn)完成后執(zhí)行。

2.1.9.3 自校準(zhǔn)限制

(1) 禁止掃描操作

要執(zhí)行掃描操作，請(qǐng)?jiān)谕瓿勺孕?zhǔn)后啟動(dòng)掃描操作。如果在自校準(zhǔn)期間啟動(dòng)掃描操作，則無法確保正常工作。

(2) 禁止對(duì)ADCALSTR寄存器進(jìn)行附加寫操作

自校準(zhǔn)啟動(dòng)后，禁止對(duì)ADCALSTR寄存器進(jìn)行寫操作，直到自校準(zhǔn)完成為止。如果違反此限制，則無法確保正常工作。

(3) 禁止強(qiáng)制停止

請(qǐng)勿在自校準(zhǔn)期間通過ADSTOPR寄存器執(zhí)行強(qiáng)制停止。即使由于系統(tǒng)錯(cuò)誤或異常處理需要強(qiáng)制停止A/D轉(zhuǎn)換操作，也務(wù)必等到自校準(zhǔn)完成后再停止，以確保正常工作。

(4) 關(guān)于通道專用采樣保持電路的限制

要對(duì)通道專用采樣保持電路執(zhí)行自校準(zhǔn)，應(yīng)按如下操作使能所有連接到A/D轉(zhuǎn)換器的通道專用采樣保持電路：

? 對(duì)于ADC0：將ADSHCR0.SHEN0至SHEN2位置1

? 對(duì)于ADC1：將ADSHCR1.SHEN4至SHEN6位置1

? 如果存在未使用的通道專用采樣保持電路，在自校準(zhǔn)完成后將其設(shè)置為禁用（ADSHCRm.SHENn = 0（m = 0、1，n = 0 至 2、4 至 6）。

在禁用任何通道專用采樣保持電路的情況下，如果對(duì)通道專用采樣保持電路執(zhí)行自校準(zhǔn)，則無法確保正常工作。

(5) 關(guān)于自校準(zhǔn)操作和噪聲的限制

A/D轉(zhuǎn)換器應(yīng)逐一執(zhí)行自校準(zhǔn)。當(dāng)一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器正在執(zhí)行自校準(zhǔn)操作時(shí)，其他轉(zhuǎn)換器應(yīng)處于空閑狀態(tài)，也就是說，既不執(zhí)行掃描操作，也不執(zhí)行自校準(zhǔn)操作。

如果違反此限制，A/D轉(zhuǎn)換精度將因自校準(zhǔn)操作期間的噪聲而降低。在這種情況下，無法保證A/D轉(zhuǎn)換器的特性。為了獲得最佳結(jié)果，應(yīng)在噪聲盡可能小的條件下執(zhí)行自校準(zhǔn)操作。

(6) 關(guān)于狀態(tài)設(shè)置的限制

要在ADCALSTCR和ADCALSHCR寄存器中設(shè)置的狀態(tài)數(shù)應(yīng)與《RA6T2硬件用戶手冊》的“電氣特性”一節(jié)中規(guī)定的值相符。此外，設(shè)置自校準(zhǔn)所需的狀態(tài)數(shù)時(shí)應(yīng)滿足以下限制：

(a) 關(guān)于設(shè)置 ADCALSTCR 寄存器的限制

? ADCALSTCR.CALADSST[9:0] 位

對(duì)于不同的自校準(zhǔn)類型，設(shè)定值應(yīng)與《RA6T2 硬件用戶手冊》的“電氣特性”一章中規(guī)定的值相符。

如果設(shè)定值因自校準(zhǔn)類型而異，應(yīng)在每次執(zhí)行自校準(zhǔn)時(shí)更改寄存器設(shè)定值。

? ADCALSTCR.CALADCST[5:0] 位

設(shè)定值與ADCNVSTR.CSTm[5:0] (m=0,1) 位的值相同。

? (ADCALSTCR.CALADCST[5:0] =ADCNVSTR.CSTm[5:0])

(b) 關(guān)于設(shè)置ADCALSHCR寄存器的限制

這些限制僅在使用通道專用采樣保持電路時(shí)適用。

? ADCALSHCR.CALSHSST[7:0] 位

設(shè)定值等于ADSHSTRm.SHSST[7:0] 位的值加1（m=0、1）。

? (ADCALSHCR.CALSHSST[7:0] = ADSHSTRm.SHSST[7:0] + 1)

如果ADSHSTR0.SHSST[7:0] 與ADSHSTR1.SHSST[7:0] 的設(shè)定值不同，則在每次執(zhí)行ADC0（SH0至SH2）和ADC1（SH4至SH6）自校準(zhǔn)時(shí)更改 CALSHSST[7:0] 的寄存器設(shè)定值。

? ADCALSHCR.CALSHHST[2:0] 位

設(shè)定值與ADSHSTRm.SHHST[2:0]（m=0、1）位的值相同。

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未完待續(xù)