以白光干涉技術(shù)為原理的3d光學(xué)輪廓儀主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓,是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學(xué)測量儀器。它能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,測試各類表面并自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。
結(jié)果組成
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等;
2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;
3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量;
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;
6、微電子表面分析和MEMS表征。
薄膜粗糙度測量
晶圓IC的輪廓檢測
晶圓IC減薄后的粗糙度檢測中圖儀器3d光學(xué)輪廓儀結(jié)合結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,除測量表面形貌或測量表面輪廓外,具有的測量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。

對wafer減薄后無圖晶圓粗糙度測量
封裝制程中對Wafer的切割
對Die的輪廓分析及蝕刻深度測量 -
測量儀
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粗糙度輪廓儀的測量原理是怎樣的

3d光學(xué)輪廓儀是干什么用的?
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