在過去，大型生產(chǎn)環(huán)境和實(shí)驗(yàn)室是進(jìn)行研發(fā)的主要場所，這導(dǎo)致了市場上大多數(shù)都是全功能臺式設(shè)備。然而，如今越來越多的測試和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)正在尋找更便攜、更經(jīng)濟(jì)高效的解決方案，他們不需要復(fù)雜的GPIB布線和專用軟件。一般來說，如果沒有專業(yè)技術(shù)人員，自動測試設(shè)備（ATE）的調(diào)試會很困難，而現(xiàn)在，測試工程師可以體驗(yàn)可連接常用軟件平臺API的編程組件的靈活性。

現(xiàn)狀

ATE可以是利用少量設(shè)備的簡單測試，也可以是大型復(fù)雜測試，包括探測站、氣動自動化、以及機(jī)器人自動化等。與傳統(tǒng)的半自動或手動測試相比，PC驅(qū)動的有源組件可以提供巨大的優(yōu)勢。

在射頻領(lǐng)域，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）或頻譜分析儀等測試設(shè)備的接收端口數(shù)量有限，需要增加對設(shè)置的物理調(diào)整次數(shù)，以獲得全面測試被測多端口設(shè)備（DUT）所需的所有探測排列。所有這些測試設(shè)置排列不可避免地增加了成本和時間，例如，測試共有9個端口的8路RF交換機(jī)需要大量的測試迭代來收集全部81個S參數(shù)。如果沒有自動開關(guān)，該測試可能會耗費(fèi)大量人力。通過預(yù)先編程的內(nèi)部開關(guān)排列測試DUT的每個單獨(dú)S參數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)VNA的2-4個端口足以在一次測試迭代中測試所有參數(shù)。

優(yōu)勢

常用的射頻組件包括移相器、射頻開關(guān)和數(shù)字衰減器，以及一些更復(fù)雜的測試設(shè)備，如VNA、信號發(fā)生器、脈沖發(fā)生器和功率計(jì)。通常，射頻組件需要對特定輸出進(jìn)行手動控制，測試設(shè)備數(shù)據(jù)需要進(jìn)行重新格式化，以便用于分析和共享數(shù)據(jù)。

例如，數(shù)字衰減器傳統(tǒng)上由晶體管-晶體管邏輯（TTL）控制，其中低電壓產(chǎn)生0的邏輯電平，高電壓產(chǎn)生1的邏輯電平。這些邏輯電平?jīng)Q定了數(shù)字衰減器中用于產(chǎn)生所需衰減的路徑。這種方法需要復(fù)雜的編程、TTL驅(qū)動程序和大量的互連。而類似虹科數(shù)字衰減器這樣的USB設(shè)備，可以消除這種復(fù)雜性。它的衰減級別可以直接編程，無需TTL連接，只需一個USB連接即可。

通常情況下，測試可能需要工程師監(jiān)控和調(diào)整各種各樣的輸出，以實(shí)現(xiàn)要求，跟蹤所有旋鈕、按鈕、適配器和插頭有時可能會容易出現(xiàn)人為錯誤。虹科提供了軟件平臺和操作指南，可以簡化測試流程，更容易在一個控制器、筆記本電腦或計(jì)算機(jī)上進(jìn)行跟蹤，同時記錄和分析數(shù)據(jù)的能力有助于設(shè)計(jì)和測試工程師輕松評估DUT性能。

虹科提供可編程USB驅(qū)動的射頻儀器，它們具有圖形用戶界面（GUI）、Windows dll文件、Linux和labVIEW兼容的驅(qū)動程序。虹科提供的USB驅(qū)動的信號發(fā)生器、數(shù)字衰減器、RF開關(guān)和移相器等設(shè)備，幾乎可以成為任何自動測試設(shè)置的關(guān)鍵一環(huán)，小巧的尺寸也可以為那些電纜雜亂的測試環(huán)境提供更多的操作空間。

虹科HK-LDA906V-8數(shù)字衰減器是一種高精度、雙向、8通道階躍衰減器，它提供從200-6000MHz的校準(zhǔn)衰減，步長為0.1dB，在90dB的控制范圍內(nèi)，典型精度<0.25 dB。該數(shù)字衰減器是一種易于攜帶的USB供電設(shè)備，其尺寸適合ATE應(yīng)用的單個機(jī)架單元，可以用于WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB和微波無線電衰落模擬器，以及工程和生產(chǎn)測試實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域。

特征

• 可靠且可重復(fù)的固態(tài)數(shù)字衰減
• 包括GUI、Windows和Linux SDK、LabVIEW驅(qū)動程序
• 可編程掃描衰減和衰減曲線
• 直接從PC或自供電集線器操作多臺設(shè)備
• 易于攜帶的USB供電設(shè)備
• 尺寸適合ATE應(yīng)用的單個機(jī)架單元

應(yīng)用

• WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB、微波無線電衰落模擬
• 工程/生產(chǎn)測試
• 自動測試設(shè)備（ATE）