2021年9月，昊衡科技在深圳光博會(huì)上首次發(fā)布了OLI低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)，廣泛用于光纖或光器件微裂紋檢測(cè)，因此又被稱為光纖微裂紋檢測(cè)系統(tǒng)。

新年伊始，萬(wàn)象更新，昊衡科技迎來(lái)了光纖微裂紋檢測(cè)系統(tǒng)的技術(shù)升級(jí)！在保證測(cè)量時(shí)間、測(cè)量性能的情況下，測(cè)量長(zhǎng)度由6cm延伸到12cm，取得了突破性的進(jìn)展。

隨著光纖微裂紋檢測(cè)系統(tǒng)（OLI）咨詢量的提升，客戶對(duì)我們產(chǎn)品興趣愈加濃厚。為滿足客戶多樣化的應(yīng)用需求，昊衡科技調(diào)研了各種應(yīng)用場(chǎng)景以及客戶的使用情況，不斷優(yōu)化產(chǎn)品性能，短時(shí)間內(nèi)將測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)了一倍。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1μm采樣分辨率

-80dB動(dòng)態(tài)范圍

12cm測(cè)量長(zhǎng)度

OLI光纖微裂紋檢測(cè)系統(tǒng)原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)小體積精密結(jié)構(gòu)內(nèi)部的微損傷檢測(cè)。該系統(tǒng)可輕松查找并精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)以及鏈路連接點(diǎn)。其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)。產(chǎn)品應(yīng)用光纖微裂紋檢測(cè)硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)

光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)

12cm的測(cè)量長(zhǎng)度只是我們的階段性目標(biāo)，后續(xù)還會(huì)不斷進(jìn)行產(chǎn)品性能優(yōu)化。未來(lái)，秉持“技術(shù)感知世界”的使命，昊衡科技將繼續(xù)探索OFDR技術(shù)及應(yīng)用，在光通信測(cè)量領(lǐng)域開(kāi)發(fā)出更多高性能產(chǎn)品，為客戶提供全方位的解決方案。