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什么是晶振匹配測試

零是起源 ? 來源:零是起源 ? 作者:零是起源 ? 2022-11-25 09:01 ? 次閱讀
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無源晶振匹配測試有幾個參數(shù)是要重點關(guān)注的:典型頻率,高中低溫度下的頻率偏差、負(fù)阻特性、激勵功率。

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1、負(fù)阻特性負(fù)阻表示晶振起振回路的放大能力,晶振本身的諧振電阻代表其衰減能力。所以負(fù)阻的絕對值與諧振阻抗的差代表了起振余量。起振余量要足夠大。

一般的判定基準(zhǔn):在振蕩電路中負(fù)阻抗的值應(yīng)達(dá)到諧振阻抗的5-10倍。消費類電子5倍以上,汽車電子類需要10倍。

測試方法就是:在晶振回路XOUT這端把晶振腳翹起,然后串入一個電阻,當(dāng)串入的電阻讓晶振停振了,這個電阻值就是負(fù)阻值。

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如上晶振參數(shù),諧振阻抗是60Ω,那么在汽車電子領(lǐng)域,晶振匹配測試的負(fù)阻值需要達(dá)到600Ω,才是合格的。

2、激勵功率

激勵功率就是晶振的功率,是晶振的諧振阻抗通過電流產(chǎn)生的功率消耗。

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如上晶振參數(shù),晶振匹配測試到的功率應(yīng)小于200uW才合格。而如果要留有50%的余量,就要求要小于100uw才合格。

3、頻率偏差

頻率偏差實際上是在當(dāng)前的晶振回路CL1/CL2電容值進(jìn)行測試得到實際的負(fù)載電容值CL,然后和晶振標(biāo)定值進(jìn)行比較得到偏差范圍。

比如測得實際電路負(fù)載電容值為6.82pF,與晶振標(biāo)定的CL規(guī)格 8pF相比,得到頻率相對偏差為6.6ppm。

審核編輯:湯梓紅

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