電子信息技術(shù)日新月異，數(shù)碼電子產(chǎn)品更新?lián)Q代的速度越來越快，其中電容器就是各類電子設(shè)備中大量使用的電子元件之一。

在半導體工業(yè)中x-ray的應用，常用的晶片檢測方法是剝開層層晶片，然后用電子顯微鏡拍攝每層表面。殊不知這種檢測方法對晶片造成了很大的損壞，此時，X射線無損檢測技術(shù)可能會對大家有所幫助。

關(guān)于電容器質(zhì)量的檢測方法不一，不同電子元件的檢測方案會產(chǎn)生不同的檢測效果。在眾多的檢測方法中，X-RAY檢測脫穎而出，成功吸引了眾多廠家。

電子器件X射線檢測儀主要利用X射線照射芯片內(nèi)部，由于X射線的穿透力很強，可以穿透芯片后成像，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的斷裂可以非常清楚的顯示，X射線檢測芯片的主要特點是不損壞芯片本身，因此該檢測方法也稱為無損檢測。

除了電容器X射線檢查，X射線還可以執(zhí)行以下檢測：組件的層剝離，爆裂，空洞和線纜完整性檢測。在電子元件的生產(chǎn)中，PCB板可能會產(chǎn)生諸如對準不良或橋接和開路等缺陷。

SMT焊點腔檢測，例如，各種連接線中的開路，短路或異常連接缺陷檢測；焊球陣列封裝和芯片封裝中焊球的完整性檢測；高密度塑料材料破裂或檢測到金屬材料；芯片尺寸測量，線電弧測量，元件錫面積測量等等；這些是X射線的用途。

以上就是x-ray檢測設(shè)備應用介紹，x-ray設(shè)備對于電子半導體領(lǐng)域有著重要作用，它能幫助企業(yè)快速檢測產(chǎn)品缺陷，這不僅讓企業(yè)能更好的把控質(zhì)量，大大提高了企業(yè)產(chǎn)品的競爭力。

審核編輯：符乾江