在計算機科學中，內(nèi)存泄漏（memory leak）指由于疏忽或錯誤使程序未能釋放而造成不能再使用的內(nèi)存的情況。內(nèi)存泄漏并非指內(nèi)存在物理上的消失，而是應用程序分配某段內(nèi)存后，由于設計錯誤，失去了對該段內(nèi)存的控制，因而造成了內(nèi)存的浪費。內(nèi)存泄漏與許多其他問題有著相似的癥狀，并且通常情況下只能由那些可以獲得程序源代碼的程序員才可以分析出來。然而，有不少人習慣于把任何不需要的內(nèi)存使用的增加描述為內(nèi)存泄漏，嚴格意義上來說這是不準確的。

一般我們常說的內(nèi)存泄漏是指堆內(nèi)存的泄漏。堆內(nèi)存是指程序從堆中分配的，大小任意的（內(nèi)存塊的大小可以在程序運行期決定），使用完后必須顯式釋放的內(nèi)存。應用程序一般使用malloc，calloc，realloc等函數(shù)（C++中使用new操作符）從堆中分配到一塊內(nèi)存，使用完后，程序必須負責相應的調(diào)用free或delete釋放該內(nèi)存塊，否則，這塊內(nèi)存就不能被再次使用，我們就說這塊內(nèi)存泄漏了。

常見內(nèi)存泄漏：

1． 常發(fā)性內(nèi)存泄漏。發(fā)生內(nèi)存泄漏的代碼會被多次執(zhí)行到，每次被執(zhí)行的時候都會導致一塊內(nèi)存泄漏。

2． 偶發(fā)性內(nèi)存泄漏。發(fā)生內(nèi)存泄漏的代碼只有在某些特定環(huán)境或操作過程下才會發(fā)生。常發(fā)性和偶發(fā)性是相對的。對于特定的環(huán)境，偶發(fā)性的也許就變成了常發(fā)性的。所以測試環(huán)境和測試方法對檢測內(nèi)存泄漏至關重要。

3． 一次性內(nèi)存泄漏。發(fā)生內(nèi)存泄漏的代碼只會被執(zhí)行一次，或者由于算法上的缺陷，導致總會有一塊且僅一塊內(nèi)存發(fā)生泄漏。比如，在一個Singleton類的構造函數(shù)中分配內(nèi)存，在析構函數(shù)中卻沒有釋放該內(nèi)存。而Singleton類只存在一個實例，所以內(nèi)存泄漏只會發(fā)生一次。

4． 隱式內(nèi)存泄漏。程序在運行過程中不停的分配內(nèi)存，但是直到結束的時候才釋放內(nèi)存。嚴格的說這里并沒有發(fā)生內(nèi)存泄漏，因為最終程序釋放了所有申請的內(nèi)存。但是對于一個服務器程序，需要運行幾天，幾周甚至幾個月，不及時釋放內(nèi)存也可能導致最終耗盡系統(tǒng)的所有內(nèi)存。所以，我們稱這類內(nèi)存泄漏為隱式內(nèi)存泄漏。

如果一個程序存在內(nèi)存泄漏并且它的內(nèi)存使用量穩(wěn)定增長，通常不會有很快的癥狀。每個物理系統(tǒng)都有一個較大的內(nèi)存量，如果內(nèi)存泄漏沒有被中止（比如重啟造成泄漏的程序）的話，它遲早會造成問題。