光電探測器是什么

光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導率發(fā)生改變。光電探測器在軍事和國民經濟的各個領域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用于射線測量和探測、工業(yè)自動控制、光度計量等；在紅外波段主要用于導彈制導、紅外熱成像、紅外遙感等方面。光電導體的另一應用是用它做攝像管靶面。為了避免光生載流子擴散引起圖像模糊，連續(xù)薄膜靶面都用高阻多晶材料，如PbS-PbO、Sb2S3等。其他材料可采取鑲嵌靶面的方法，整個靶面由約10萬個單獨探測器組成。

光電探測器的發(fā)展歷史

最早用來探測可見光輻射和紅外輻射的光電探測器是熱探測器。其中，熱電偶早在1826年就已發(fā)明出來。1880年又發(fā)明了金屬薄膜測輻射計。1947年制成了金屬氧化物熱敏電阻測輻射熱計。1947年又發(fā)明了氣動探測器。經過多年的改進和發(fā)展，這些光電探測器日趨完善，性能也有了較大的改進和提高。

從20世紀50年代開始人們對熱釋電探測器進行了一系列研究工作，發(fā)現它具有許多獨特的優(yōu)點，一度使這個領域研究很活躍。但是，與光子探測器相比，這些光電探測器的探測率仍較低，時間常數也較大。

應用廣泛的光子探測器，除了發(fā)展最早、技術上也最成熟、響應波長從紫光到近紅外的光電倍增管以外，硅和鍺材料制作的光電二極管、鉛錫、Ⅲ～Ⅴ族化合物、鍺摻雜等光電探測器，目前均已達到相當成熟的階段，主要性能已接近理論極限。

1970年以后又出現了一種利用光子牽引效應制成的光子牽引探測器。其主要用于CO2激光的探測。八十年代中期，出現了利用摻雜的GaAs/AlGaAs材料、基于導帶躍遷的新型光探測器——量子阱探測器。這種器件工作于8～12μm波段，工作溫度為77K。

光電探測器有哪幾類

光電探測器的第一種分類：

按照光電探測器件的物理效應可分為兩類：一類是利用各種光電效應的光子探測器，另一類是利用溫度變化效應的熱探測器;

1、光子探測器

光子探測器的工作原理是基于光電效應，入射的光子和材料中的電子發(fā)生相互作用，若產生的光電子逸出材料表面，則稱為外光電效應;若產生了被束縛在材料內的自由電子或空穴，則稱為內光電效應。

①外光電效應：光子發(fā)射效應;

②內光電效應：光電導效應，光生伏特效應，光磁電效應。

2、熱探測器

熱探測器的工作原理是光熱效應，材料吸收光輻射后可以產生溫差電效應、電阻率變化效應、自發(fā)極化強度的變化效應、氣體體積和壓強的變化效應等等，利用這些效應可制作各種熱探測器。常用的光熱效應有：熱釋電效應，溫差效應，測輻射熱效應。

光電探測器的第二種分類：

按照光電探測器件的空間分辨率也可分為兩類：一類是成像器件，另一類是非成像器件。

1、成像器件

利用光電探測器，構成圖像傳感器，對可見光或者紅外光譜進行測量，形成光學圖像以供處理。主要有CCD和CMOS，廣義上，眼睛也屬于這類探測器。

2、非成像器件

所有除成像器件以外的光電探測器件均可稱為非成像器件，各種熱探測器和大部分光子探測器均屬于這一類。